粒子诱发 x 饿射线荧光分析.pptVIP

粒子诱发X射线荧光分析Particle Induced X-ray Emission（PIXE) 3.1.引言： 1. 粒子诱发x射线荧光分析（PIXE）是粒子束分析的一个重要分支。 2.其开创者是Sven A. E. Johansson等人[1]，于1970年首次开展这方面的工作，并为人们所重视，且日益广泛的被大家采用。 [1] Nuclear Instruments and Methods in Physics Research，84（1970）P141 3.1.引言： 3.2. PIXE分析原理: 粒子束与原子相互作用的物理图像。 3.3. PIXE分析实验设备: 3.4. PIXE定量分析方法 3.4. PIXE定量分析方法 相对测量 单标准测量法 3.4. PIXE定量分析方法 PIXE定量分析获取的谱图实例 图上的横坐标时能量（keV）；纵坐标为计数（个）。 Si(Li)探测器介绍 * * Department of Modern Physics in Lanzhou University Lanzhou University 主讲：Zhang Xiaodong 3. PIXE分析具有灵敏、快速、取样少和无损 分析等特点。 4. 该方法对大多数元素（Z≥12）是很灵敏的 其相对灵敏度为PPm（即百万分之一）量级， 可检测的元素含量的下限为10-16g。 K L M X-ray (Auger e-) 粒子束 Electron 靶原子 3.2. PIXE分析原理: M L K 1S1/2 2P3/2 2P1/2 2S1/2 3d5/2 3d3/2 2P3/2 2P1/2 2S1/2 L线系 K线系 特征X射线能级图解 跃迁定则: △l =±1 △j = 0,±1 束流准直器 靶 靶室 入射束流 吸收片 准直光栏 Si(Li)探测器 束流积分仪 主放 高压 多道分 析器 液氮 容器 加速器 1. 薄靶 绝对测量 特征X射线的计数 阿佛加德罗常数 入射粒子个数 探测器对特征X射线的探测效率 原子序数 待测元素的重量 X射线产生截面 探测器所张的立体角 相对测量方法是在相同的条件下，分别测量标准和样品中待测元素的表征X射线的强度，这样就可以避免Ω、ξ等因子中的系统误差和σx的不确定性。 待测元素的峰计数 标准元素的峰计数 待测元素的重量 标准元素的重量 3.4. PIXE定量分析方法 以单个标准来标定其他多种元素，在应用中是比较方便的。 引入相对灵敏度因子： 推导出： 2. 厚靶 1,2,3……..i x 粒子束 图例：厚靶样品示意图 3.4. PIXE定量分析方法 待测元素特征X射线峰的计数Nx为： 为待测元素的相对含量 为待测样品的密度 为样品对X射线的质量吸收系数 为样品对X射线吸收系数 3.4. PIXE定量分析方法 3. 干扰问题 特称X射线伴线的干扰 入射粒子的韧致辐射的干扰 γ射线的康普顿散射的干扰 准分子跃迁辐射的干扰 二次电子韧致辐射的干扰 3.4. PIXE定量分析方法 3. 加过滤片 防止由靶体产生的X射线使探测器饱和 阻止出射电子和被散射粒子打到Si(Li)窗上 消除硅基体X射线本底，提高探测微量元素的灵敏度 3.5. PIXE分析的特点及应用 1. 特点 元素的鉴定一般在z≥12; 能够分析含量少浓度低的元素； 一次测量可探知多种元素； 灵敏度随原子序数平滑变化； 非破坏性快速分析，且可以定量和绝对定标； 可采用微束。 3.5. PIXE分析的特点及应用 2. 应用 环境污染的监测； 生物和医学样品的分析； 考古研究； 超重元素的探测； 空气监测 水质监测 土壤监测 组织切片 头发样品 血液样品等 质子微束及质子显微镜。 3.6. 荧光分析的推广 利用X射线和γ射线诱发靶元素的特征X射线分 析(XIX) 利用电子束来诱发特征X射线分析(EIX) 在分析中采用的射线能量一定要大于待研究元素的特征X射线的能量，强度一般为毫居量级，只有这样才能达到很好的灵敏度。该研究方法已广泛应用于工矿、医院等单位。如工矿中得料位计、核子称等。 在分析中采用的电子束能量在30-50keV量级，由于电子束存在较强的韧致辐射的本底干扰，使得特征X射线叠加在一个平滑的本底之上，因而EIX的灵敏度受到极大的限制。 返回 HV -- LV -- Output -- Test Temperature Protect 前置放大 Si(Li)晶体 金属Be窗(μm量级)