基于IFE－PIC和MCC方法的离子推进器加速栅极孔壁腐蚀机理仿真.PDF

高电压技术 第 卷第 期 年 月 日 ３９ ７ ２０１３ ７ ３１ 　 　　　　　 １７６３ ， ， ， ， Ｈｉ ｈＶｏｌｔａ ｅＥｎ ｉｎｅｅｒｉｎ Ｖｏｌ．３９ Ｎｏ．７ Ｊｕｌ ３１ ２０１３ 　 　 ｇ ｇ ｇ ｇ ｙ 　 基于ＩＦＥＰＩＣ和ＭＣＣ 方法的离子推进器 － 加速栅极孔壁腐蚀机理仿真 １ １ １ ２ 王二蒙 ，楚豫川 ，曹 勇 ，李 娟 　 　 （ ， ； ， ） 哈尔 滨工业大 学深圳研究 生 院 深圳 兰 州空 间技术物理研究所 兰 州 １． ５１８０５５２． ７３００００ ： ， 。 摘 要 离子推进器的寿命直接影响航天器的使用年限 推进器加速栅极腐蚀是影响其寿命的主要因素 为了了 　 ， （ ） 解离子推进器加速栅极孔壁腐蚀机理 利用基于浸入式有限元与粒子模拟 ＩＦＥＰＩＣ 结合法和 Ｍｏｎｔｅ Ｃａｒｌｏ碰撞 － 　 （ ） ， 、 （ ） 。 ＭＣＣ 方法的三维数值模拟程序 对离子运动 电荷交换 ＣＥＸ 碰撞以及加速栅极腐蚀进行了模拟 研究结果表 ， ， 明 加速栅极电压的变化对加速栅极孔壁的腐蚀深度影响很小 屏栅极电压的变化会对加速栅极上游区域的 ＣＥＸ ， ； 、 离子能量产生变化 影响加速栅极孔壁腐蚀 轰击加速栅极孔壁的 ＣＥＸ离子源自加速栅极上游 加速栅极孔内和 ， 加速栅极下游 个区域 并且源自加速栅极上游区域离子能量比源自加速栅极下游区域和加速栅极孔内离子能量 ３ ， 。 大的多 加速栅极孔壁腐蚀主要由源自加速栅极上游的 ＣＥＸ离子对加速栅极孔壁撞击造成 ： ； ； ； ； ； ； 关键词 离子推进器 加速栅极 孔壁 腐蚀 电荷交换 浸入式有限元与粒子模拟 ＭｏｎｔｅＣａｒｌｏ碰撞