一种自偏置锁相环电路的分析与测试-太赫兹科学与电子信息学报.PDF

第 14 卷 第 3 期 太赫兹科学与电子信息学报 Vo1．14，No．3 2016 年 6 月 Journal of Terahertz Science and Electronic Information Technology Jun．，2016 文章编号：2095-4980(2016)03-0421-05 一种自偏置锁相环电路的分析与测试 鲍飞鸿，郭 伟，李智鹏，鲍景富 ( 电子科技大学 电子工程学院，四川 成都 611731) 摘 要 ： 自偏置锁相环电路结构自提出以来便受到了极大的关注，人们普遍认为其可以改善 锁相环的相位噪声。为了验证这种结构能否改善传统锁相环电路的相位噪声性能，根据锁相环的 基本理论设计并实现了一种可进行重新配置的锁相环电路结构，电路中的锁相环结构可以在传统 锁相环、自偏置锁相环和普通偏置锁相环之间进行切换。使用信号源分析仪分别测试得到了这3种 结构的相位噪声性能：自偏置锁相环的带内相位噪声比普通锁相环恶化了约6 dB ，而采用普通偏置 锁相环使环路等效分频比减小5 的相位噪声比普通锁相环改善了约14 dB 。理论与测试结果均表明， 自偏置锁相环和普通锁相环相比，环路反馈回路中的分频比并没有有效降低，因此自偏置锁相环 的相位噪声性能并没有得到改善。 关键词 ：锁相环；相位噪声；自偏置；环路等效分频比 中图分类号 ：TN911.8 文献标识码 ：A doi ：10.11805/TKYDA201603.0421 Analysis and measurement of a self-offset Phase-Locked Loop BAO Feihong，GUO Wei，LI Zhipeng，BAO Jingfu (School of Electronic Engineering，University of Electronic Science and Technology of China，Chengdu Sichuan 611731，China) Abstract： The self-offset Phase-Locked-Loop(PLL) structure, which is considered to have the ability to improve the phase noise performance of the PLL, has gained much attention. In order to verify this viewpoint, a reconfigurable circuit board is designed and implemented based on the basic theory of the PLL. The phase-locked loop structure can be switched among the conventional, self-offset and offset topologies, whose phase noise performances are measured by Agilent signal source analyzer, respectively. The in-band phase noise performance of the conventional PLL is better than that of the self-offset one by 6 dB, and the phase noise perfo