统计过程控制(地SPC)3.docVIP

统计过程控制（SPC）案例分析 PAGE PAGE 21 PAGE 21 统计过程控制（SPC）案例分析 用途 1. 分析判断生产过程的稳定性，生产过程处于统计控制状态。 2．及时发现生产过程中的异常现象和缓慢变异，预防不合格品产生。 3．查明生产设备和工艺装备的实际精度，以便作出正确的技术决定。 4．为评定产品质量提供依据。 二．控制图的基本格式 1．标题部分 X-R控制图数据表 产品名称 工作指令编号 收集数 据期间 质量特性 车间 观察方法 规定日产量 设备编号 规格界限（或要求） Tu 抽 样 间隔 操作 人员 Tl 数量 作业指导书编号 仪器编号 检验人员 生产过程 质量要求 日期 时间 样本号 测 定 值 均值 极差R 备注 X1 X2 X3 X4 X5 计算：图：CL= R图：CL= UCL=+ UCL= LCL=- LCL= CLLCLU CL LCL UCL 样本号 质 量 特 性 在方格纸上作出控制图： 控制图 图 R图 说明 操作人 班组长 质量工程师 横坐标为样本序号，纵坐标为产品质量特性。图上有三条平行线： 实线CL：中心线 虚线UCL：上控制界限线 LCL：下控制界限线。 控制图的设计原理 正态性假设：绝大多数质量特性值服从或近似服从正态分布。 3准则：99。73%。 小概率事件原理：小概率事件一般是不会发生的。 反证法思想。 控制图的种类 按产品质量的特性分（1）计量值（） （2）计数值（p，pn，u，c图）。 按控制图的用途分：（1）分析用控制图；（2）控制用控制图。 控制图的判断规则 分析用控制图： 规则1 判稳准则绝大多数点子在控制界限线内（3种情况）； 规则2 判异准则排列无下述现象（8种情况）。 控制用控制图： 规则1 每一个点子均落在控制界限内。 规则2 控制界限内点子的排列无异常现象。 [案例1] p控制图 某半导体器件厂2月份某种产品的数据如下表(2)(3)栏所表示,根据以往记录知,稳态下的平均不合格品率,作控制图对其进行控制. 数据与p图计算表 组号(1) 样本量(2) 不合格品数D(3) 不合格品率p(4) P图的UCL(5) 1 85 2 0.024 0.102 2 83 5 0.060 0.103 3 63 1 0.016 0.112 4 60 3 0.050 0.114 5 90 2 0.022 0.100 6 80 1 0.013 0.104 7 97 3 0.031 0.098 8 91 1 0.011 0.100 9 94 2 0.021 0.099 10 85 1 0.012 0.102 11 55 0 0 0.117 12 92 1 0.011 0.099 13 94 0 0 0.099 14 95 3 0.032 0.098 15 81 0 0 0.103 16 82 7 0.085 0.103 17 75 3 0.040 0.106 18 57 1 0.018 0.116 19 91 6 0.066 0.100 20 67 2 0.030 0.110 21 86 3 0.035 0.101 22 99 8 0.080 0.097 23 76 1 0.013 0.105 34 93 8 0.086 0.099 25 72 5 0.069 0.107 26 97 9 0.093 0.098 27 99 10 0.100 0.097 28 76 2 0.026 0.105 小计 2315 90 [解] 步骤一 :预备数据的取得,如上边表所示. 步骤二: 计算样本不合格品率 步骤三: 计算p图的控制线 由于本例中各个样本大小不相等,所以必须对各个样本分别求出其控制界线.例如对第一个样本n1=85,有 UCL=0.102 CL=0.0389 LCL=-0.024 此处LCL为负值,取为零.作出它的SPC图形. UCL CL