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有关介质损耗的全解精讲
关于介质损耗的一些基本概念
1、介质损耗与介质损耗因数:
绝缘材料在电场作用下,由于介质电导和介质极化的滞后效应,在其内部引起的能量损耗。也叫介质损失,简称介损。介质损耗指的是电介质在电场作用下引起的能量损耗,主要分为三种形式:漏导引起的损耗、电介质极化引起的损耗、局部放电引起的损耗。直流电压作用下电介质里的损耗主要是漏导损耗,用绝缘电阻或漏导电流表示就可以了,因此平常讨论的介质损耗均为针对交流电压作用下电介质中的损耗。
2、介质损耗角δ:
在交变电场作用下,电介质内流过的电流相量和电压相量之间的夹角(功率因数角为φ)的余角(δ)。 简称介损角。
3、介质损耗正切值tgδ:
又称介质损耗因数,是指介质损耗角正切值。简称介损角正切。根据推导当电介质、外加电压及其频率一定时,介质损耗P与介质损耗因数tgδ成正比,所以可以用tgδ来表征介质损耗的大小,工程上都是通过测量计算tgδ值来表示介损的大小。
4、高压介质损耗测量仪:
简称介损仪,是指采用电桥原理,应用数字测量技术,对介质损耗角正切值和电容量进行自动测量的一种新型仪器。一般包含高压电桥、高压试验电源和高压标准电容器三部分。
5、外施:
使用外部高压试验电源和标准电容器进行试验,对介损仪的示值按一定的比例关系进行计算得到测量结果的方法。
6、内施:
使用介损仪内附高压电源和标准器进行试验,直接得到测量结果的方法。
7、正接线:
用于测量不接地试品的方法,测量时介损仪测量回路处于地电位。
8、反接线:
用于测量接地试品的方法,测量时介损仪测量回路处于高电位,他与外壳之间承受全部试验电压。
9、常用介损仪的分类:
现常用介损测试仪有西林型和M型两种。QS1和KD9000属于西林型。
10、常用抗干扰方法:
目前介质损耗测量中常见抗干扰方法有以下几种: 倒相法、移相法、变频法和移相跟踪抗干扰法等。
11、准确度的表示方法
tgδ:±(1%D+0.0004)
CX: ±(1%C+1pF)
加号前表示为相对误差,加号后表示为绝对误差。相对误差小表示仪器的量程线性度好,绝对误差小表示仪器的误差起点低,但这两个指标是相符相成的,一般不存在相对误差大、绝对误差小的现象。校验时读数与标准值的差应小于以上准确度,否则就是超差。
12、抗干扰指标
抗干扰指标为满足仪器准确度的前提下,干扰电流与试验电流的最大比例,比例越大,抗干扰性能越好。
测量介质损耗的原理和一些常见方法
介质损耗的测量,传统上有电桥法、谐振法、伏安法等,但由于这些方法具有测量精度低或者操作繁琐等缺点,现已逐渐被淘汰。近年来,随着微机测量技术的发展,应用微机实现介质损耗测量系统不断涌现,介质损耗测量技术发展到一个新时代。目前,应用微机实现的介质损耗测量方法主要有矢量法、谐波分析法、过零点电压比较法、过零检测鉴相法等。
① 矢量法:矢量法是利用电压向量、电流向量求出tgδ值的方法,实质是利用了伏安法的原理。矢量法中最常用的有两种:一种是基波相位分离法,即利用三角函数的正交性,把高次谐波分量消除,把基波分离出来,再通过微机采样和数据处理计算出tgδ值,这种方法能有效克服谐波干扰带来的误差,但其测量精度受A/D变换器的位数限制,要使用高位数的A/D变换器才能获得高的测量精度;另一种是自由向量法,这种方法无须选择参考向量,依据的是电压信号与电流信号之间的相对位置和各自模的大小不变的原理来计算tgδ值的,这种方法硬件构成简单,但正弦信号的频率不稳、波形畸变、外磁场干扰及元器件误差等都易引起测量误差。
② 谐波分析法:谐波分析法,就是利用数字频谱分析的方法对采样的试品电压、电流信号进行分析,提取出其基波分量,进而通过相位比较求出其介质损耗角δ及tgδ值。目前采用较多的是基于离散傅立叶变换的快速离散傅立叶变换算法(FFT)。这种方法具有较好的抗干扰性和测量精度,但系统频率波动会影响到测量结果的准确度。
③ 过零点电压比较法:过零点电压比较法是测量两个正弦波在过零点附近的电压差,并由电压差来计算相位差和介质损耗角正切的方法。这种方法在测量正弦波的相位差时,不采用在过零点时间间隔的方法,而采用在过零点附近测量两个正弦波差值电压的方法,因而对过零点的检测精确度没有很高的要求,比较适合用于现场在线监测。但该方法对所测量的正弦波波形要求很高:两正弦波的幅值必须相等;两正弦波的谐波分量和谐波相位要相等、两正弦波的频率及频率的动态偏移要相等;两正弦波的相位差要小。
④过零检测鉴相法:过零检测鉴相法,是利用电压和电流的过零点之间的相位差实现介损测量,该方法是目前介损测量中最常用的一种方法。这种方法相对以上的几种方法具有分辨率高、线性好、易建模的优点,但对过零点的检测精度要求
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