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单双频激发的容性耦合等离子体诊断实验研究凝聚态物理专业论文
单、双频激发的容性耦合等离子体诊断实验研究单、双频激发的容性耦合等离子体诊断实验研究
单、双频激发的容性耦合等离子体诊断实验研究
单、双频激发的容性耦合等离子体诊断实验研究 中文摘要
低气压下的容性耦合等离子体(CCP)技术在现代微细加工过程中发挥着重要作 用。在半导体工业生产中,需要对薄膜进行各向异性刻蚀。基于等离子体放电的干法 刻蚀工艺在这一过程中发挥了不可替代的作用。由于集成电路特征尺寸的不断减小和 集成度的持续提高,以及待处理基片面积的不断增大,对等离子体加工技术提出了更 高的要求。容性放电的特性研究是目前产学界共同关注的热点,人们对包括新型的双 频容性耦合放电在内的各种放电方式进行了研究。在这种放电方式中,人们希望通过 一个高频来控制等离子体的产生,另一个低频则用于控制离子轰击能量,从而实现离 子通量、能量的独立控制。由于等离子体的复杂性,目前容性放电中仍有许多问题有 待研究。
本文通过使用朗缪尔探针、悬浮双探针以及发射光谱技术,对单频及双频CCP 放电进行了实验研究。
1.对低气压Ar等离子体放电建立了一个碰撞辐射模型,主要考虑了电子碰撞激 发、电离、自发辐射等过程。在低气压下,亚稳态的扩散损失是一个重要的损失机制。 考察了了各激发态对电子温度、密度等参量的依赖关系。发现电子密度、温度的增加 有利于各激发态密度的提高,但对辐射态、亚稳态的影响有所不同。结合发射光谱与 探针测量,对13.56 MHz单频容性耦合放电进行了诊断,发现模型计算与探针获得的 结果符合的较好。‘
2.双频CCP中较低的低频频率以及各种倍频、混频等会对传统的朗缪尔探针产 生强烈的干扰以致无法工作。在固定气压为5 Pa的条件下,我们使用了悬浮的双探 针与发射光谱对13.56/2、27/2、41/2、60/2 MHz不同频率组合的双频激发的舡等离 子体容性放电进行了实验研究。发现低频的施加使电子温度立即迅速上升,随后基本 保持稳定;电子密度则首先略下降,随后持续上升。随着高频频率从13.56 1VⅡIz提高 至60 MHz,这一趋势逐渐变弱,表明较高的高频频率有利于高、低频之间的解耦。 对13.56 MHz以上的高频,光谱结果显示心的750.4 am谱线强度随低频功率的增加
中文摘要
中文摘要 单、双频激发的容性耦合等离子体诊断实验研究
先略增强,随后持续下降。对探针与光谱结果之间的不一致行为进行了分析,认为高 频的升高将引起电子能量分布函数的转变,在低频功率施加之后表现了出来。
研究了41/2 MHz的时的容性放电中气压的影响,结果显示电子温度总体上随 气压上升而下降。电子密度随着气压的增加而先上升后降低。在高气压下,较大的低 频功率使电子温度显著降低。这被认为是放电模式(0【模式和Y模式)发生转变所导致 的。随着气压的升高,不同低频功率的施加对电子能量分布产生了不同的影响。
3.使用悬浮双探针和发射光谱对60/2、60/13.56 MHz双频组合的氮气容性放电 进行了实验研究。发现在高气压下,60/13.56 MHz和60/2 MHz双频放电特性出现了 显著不同。在60/2 MHz放电中,在高气压和大的低频功率条件下,电子密度和光谱 强度出现了反常增强。通过对电子密度、温度及光谱强度的分析,认为此时发生了放
电模式的转变,导致基态氮离子N2+∞密度的升高及随后氮离子谱线的反常增强。激
发态氮离子N2+(B)主要来自于电子对基态氮离子N2+()()的激发。 通过拟合转动光谱计算了N2的双频放电中分子、离子的转动温度。随着低频功
率和气压的增加,分子、离子的转动温度都呈上升趋势。60/2 MHz放电中离子温度 明显高于60/13.56 MHz放电,而不同低频对分子转动温度的影响不大。讨论了不同 低频对离子温度的影响。低频为2 MHz时,N2+离子能够响应电场变化被有效加热, 因而温度较高。
关键词。容性耦合等离子体;碰撞辐射模型;朗缪尔探针;双探针;发射光谱
作 者:虞一青 指导教师:宁兆元辛煜
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单、双频激发的容性耦合等离子体诊断实验研究
单、双频激发的容性耦合等离子体诊断实验研究 英文摘要
Experim ental diagnosis study on capacitively coupled
plasma nrlVen Dy single 0r dual radio l-requency
Abstract
The low pressure radio frequency capacitively coupled plasma(ccP)is widely used in the manufacturing of semiconductor devices,especially for the anis
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