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针对太赫兹波段介电参数测量的宽带准光系统ABroadband
第7卷第1期 雷 达 学 报 Vol. 7No. 1
2018年2月 Journal of Radars Feb. 2018
针对太赫兹波段介电参数测量的宽带准光系统
*① ② ③ ④ ① ①
刘小明 俞俊生 陈晓东 周 俊 甘 露 张持建
①(安徽师范大学物理与电子信息学院毫米波与太赫兹技术实验室 芜湖 241002)
②(北京邮电大学电子工程学院 北京 100876)
③(英国伦敦大学玛丽女王学院电子工程与计算机学院 伦敦 E1 4NS)
④(电子科技大学物理电子学院 成都 610054)
摘 要：该文针对太赫兹波段材料的介电参数提取的需求，利用准光学技术设计了一套宽带介电参数测量系统并
讨论了自由空间的介电参数提取方法。通过平面扫描的方法验证了系统电磁传输特性。结果表明，准光系统的近
场参数与设计结果相吻合。利用石英硼化玻璃和水样品进行了测试，并利用数值方法对介电参数进行提取。测试
结果表明，利用准光方法测试所得到的介电参数与典型值相吻合，进一步验证了该方法的有效性。
关键词：太赫兹；介电参数；宽带；准光系统
中图分类号：TN952 文献标识码：A 文章编号：2095-283X(2018)01-0056-11
DOI: 10.12000/JR17110
引用格式：刘小明, 俞俊生, 陈晓东, 等. 针对太赫兹波段介电参数测量的宽带准光系统[J]. 雷达学报, 2018, 7(1):
56–66. DOI: 10.12000/JR17110.
Reference format: Liu Xiaoming, Yu Junsheng, Chen Xiaodong, et al.. A broadband quasi-optical system for
measuring the dielectric properties in the terahertz band[J]. Journal of Radars, 2018, 7(1): 56–66. DOI:
10.12000/JR17110.
A Broadband Quasi-optical System for Measuring the Dielectric
Properties in the Terahertz Band
① ② ③ ④
Liu Xiaoming Yu Junsheng Chen Xiaodong Zhou Jun
① ①
Gan Lu Zhang Chijian
①(Laboratory of Millimetre Wave and Teraher
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