数电实验讲义..doc

实验一 门电路逻辑功能测试及逻辑变换 一、实验目的： 1．掌握TTL与非门、或非门和异或门输入与输出之间的逻辑关系。 2．熟悉TTL中、小规模集成电路的外型、管脚和使用方法。 3. 熟悉逻辑功能的变换。 二、实验仪器及器件： 1．数字电路实验箱 1台 2．二输入四与非门74LS00 1片 3. 二输入四或非门74LS28 1片 4. 二输入四异或门74LS86 1片 5．数字万用表 1块 三、实验预习： 1．复习各种门电路的逻辑符号、逻辑函数式、真值表。 2．查出实验所用集成电路的外引脚线排列图，熟悉其引脚线位置及各引脚线用途。 四、实验原理： 1．测试门电路的逻辑功能 ⑴ 与非门的逻辑功能：有0出1，全1出0。 与非门的逻辑函数式：Y=AB 74LS00为二输入四与非门, 即在一块集成块内含有四个互相独立的与非门,每个与非门有2个输入端。如下图所示。 ⑵ 或非门的逻辑功能：有1出0，全0出1。 或非门的逻辑函数式：Y=A+B 74LS28为二输入四或非门, 即在一块集成块内含有四个互相独立的或非门,每个或非门有2个输入端。 ⑶ 异或门的逻辑功能：相同出0，相反出1。 异或门的逻辑函数式：Y=A⊕B=AB+AB 74LS86为二输入四异或门，即在一块集成块内含有四个互相独立的异或门,每个异或门有2个输入端。如图（c）所示。 2．门电路的逻辑变换：就是用与非门等组成其它门电路。 方法：先对其它门电路的函数式用摩根定理等公式变换成与非式，再画出相应逻辑图，然后用与非门实现之。 五、实验内容： 实验前先检查实验箱电源是否正常，然后选择实验用的集成电路，按接线图连线。特别注意Vcc及地线不能接错。线接好后经指导教师检查无误方可通电。实验中改动接线必须先断开电源，接好线后再通电实验。 1．测试二输入四与非门74LS00一个与非门的输入和输出之间的逻辑关系。 任选二个输入端A、B接电平开关（K1～K16中任选二个）,另外的输入端悬空，分别测出各种输入状态下输出逻辑状态和输出电压填入表1中。 表1 输 入 输 出 A B Y 电压(V) 0 0 0 1 1 0 1 1 ⑵ 测试二输入四或非门74LS28一个或非门的输入和输出之间的逻辑关系。 任选二个输入端A、B接电平开关,另外的输入端接地，分别测出各种输入状态下输出逻辑状态和输出电压填入表2中。 表2 输 入 输 出 A B Y 电压(V) 0 0 0 1 1 0 1 1 ⑶ 测试出二输入四异或门74LS86，一个异或门的输入和输出之间的逻辑关系。 任选二个输入端A、B接电平开关，分别测出各种输入状态下的输出状态和输出电压填入表3中。 表3 输 入 输 出 A B Y 电压(V) 0 0 0 1 1 0 1 1 2．门电路的逻辑变换 ⑴ 用与非门构成或门，测出其真值表加以验证： 用一片74LS00与非门构成或门Y1=A+B=，画出逻辑电路图，并在图中标明芯片引脚号，按图接好线后，测试并填入表4中。 表4 输 入 输 出 A B Y1 电压(V) Y2 电压(V) 0 0 0 1 1 0 1 1 ⑵ 用与非门74LS00构成同或门：（选做） 将同或门函数式转化为与非门函数式Y2，画出逻辑图，并在图中标明芯片引脚号，按图接线，测试并填入表4中。 六、实验提示： 将被测器件插入实验台上的14芯插座中。 将器件的引脚7与实验台的“地”（GND）连接，将器件的引脚14与实验台的+5V连接。 用实验台的电平开关输出作为被测器件的输入。拨动开关，则改变器件的输入电平。 将被测器件的输出引脚与实验台上的电平指示灯连接。指示灯亮表示输出电平为1，指示灯灭表示输出电平为0。 七、实验报告内容： 1．实验目的、实验中所使用的器件引脚图；按各步骤要求填表。 2．回答问题： ⑴ 怎样判断门电路逻辑功能是否正常？ ⑵ 由实验结果说明控制门的作用。 （3）讨论TTL与非门闲置输入端的处理方法。 实验二 译码器的逻辑功能 一、实验目的 学会正确使用中规模集成芯片（MSI）组合逻辑电路，掌握译码器的应用，学会测试其逻辑功能。 学习集成芯片使能端的功能、用法。 学会利用译码器实现逻辑函数的使用方法。 学习用仪器检测故障，排除故障。 学习集成译码器的扩展方法。 二、实验设备及器件 1、数字电路实验箱 1台 2、74LS139 双2线-4线译码器 1片 3、万用表、若干连线。 4、74LS00 二输入四与非门 1片 三、实验原理 译码：是编码的反过程，是将给定的二进制代码翻