反铁磁耦合双层膜三层膜磁特性的微磁学研究凝聚态物理专业论文.docxVIP

中南大学硕七学位论文 中南大学硕七学位论文 摘要 摘要 本文基于微磁学理论对反铁磁耦合双层膜、三层膜的反磁化机制 展开了如下研究： (1)基于Stoner-Wohlfarth模型对反铁磁耦合三层膜的磁滞特性进行 了研究。研究得到了非对称反铁磁耦合三层膜在不同结构参量和磁参量 情况下磁滞回线相图以及各种磁滞回线出现的临界条件。分析了反铁磁 耦合三层膜自由层以及反铁磁耦合磁记录介质的磁滞回线类型和热稳 定性。 (2)采用一维原子链模型对软／硬磁反铁磁耦合双层膜的反磁化过程 以及形核场进行了研究。首次提出并证明了软／硬磁反铁磁耦合双层膜的 反磁化过程存在不可逆过程。结果表明软磁层厚度小于某一临界厚度屯 时，反磁化过程为可逆过程，而软磁层厚度大于如时，反磁化过程为不 可逆过程。并且只有当软磁层厚度小于临界厚度屯时，形核场才由文献 中常提到的公式H。=Hb。／t”决定(f为软磁层厚度，对于给定材料结构‰ 和，l为常数)。 (3)禾lJ用微磁学方法对反铁磁耦合三层膜自由层的反磁化机制进行 了以下几个方面的研究：1)强反铁磁耦合条件T(JO．0001J／m2)，长宽比 为1时，当膜面宽度大于400nm时，反磁化过程为一致翻转过程，反转场、 矫顽力，饱和场都不随膜面宽度变化；膜面宽度小于400nm时，反磁化 过程为非一致翻转过程，反转场，矫顽力，饱和场随膜面宽度增大而减 小。2)对膜面为400n