测控技术与仪器毕业范文多次重触发存储测试系统设计.docVIP

多次重触发存储测试系统设计 摘要：多次重触发存储测试的特征是能对测试系统多次触发，计量每次触发的数据。 存储测试的主要技术特点是，现场实时快速采集记忆，事后冋收处理再现?实现动态参数 存储测试的技术关键在于研制能够在被测环境内正常工作的，对被测对象工作无影响或 影响在允许范围内的数据采集与存储测试系统。本设计主要实现通过CPLD对AD转换器 控制实现AD转换，最关键的是通过对存储器的控制实现每次触发存储64K的数据，等 到下次触发测试系统才继续开始工作，当存满了整个存储器512K后发出满信号，读信 号来吋对存储器进行读操作，读操作要实现把并行数据串行输岀，上面的过程都通过程 序来实现，可以看出VHDL的程序设计是木设计的关键。 关键字：重触发，存储测试,CPLD Several times to trigger memory test system design Abstract: Storage tests several times to trigger the characteristics of the testing system is able to trigger several times, each time triggering the measurement data. The main test storage technology is characterized by rapid acquisition memory at the scene immediately after the recovery reproduction. Realization of dynamic parameters of the test storage technology is the key to the development measured in the normal work environment, the work had no effect on the tested object or effect of allowing Within the scope of data collection and storage test system. The main design through the CPLD control of AD converters to achieve AD conversion, the key is to realize the memory of each control 64 K trigger storage of data, wait for the next trigger to begin testing system to work, when the entire memory of Man 512K after a full signal, when the reading signals to the memory for reading, reading parallel operation to achieve the serial output data, above all through the process of procedures to achieve, we can see that the procedure VHDL design is the key to this design. Keyword: re-trigger, storagetest, CPLD 第I页共II页 目录 1绪论 TOC \o 1-5 \h \z 1.1存储测试技术概述 1 1.2存储测试技术国内外研究情况及发展趋势 1 1.3多次重触发存储测试 3 本文的主要内容及章节安排 3 本章小结 4 HYPERLINK \l bookmark6 \o Current Document \h 2 EDA技术的介绍 5 EDA技术的内涵 5 EDA的基本工具 5 CPLD/FPGA 的概述 5 CPLD 和 FPGA 的介绍 5 2.3.2可编程逻辑器件的一般设计流程 6 ISE 介绍 7 ISE5.2 的特点 7 ISE 的工具 7 基于ISE5.2的设计输入方法 7 5硬件描述语言VHDL 16 VHDL语言简介 16 VHDL中的控制语句 16 本章小结 18 HYPERLINK \l bookmark12 \o Current Document \h 3系统硬件设计 19 木课题要研究的问题 19 系统组成 19 芯片的选择 20 CPLD 的选择 20 A/D 的选择 22 3.3.3存储器的选择 23 XCR3256对硬件的控制原理 24