降低测试系统的切换杂讯.pdf

降低測試系統的切換雜訊 應用手冊1441-2 前言 設計一個用來測試電子與機電產品的切換系統本身所會 基本的測試系統架構如圖 1 所示，其中切換的部份是整 碰到的問題可能和設計所要測試的產品一樣多。現代化 個系統的核心，可將多個測試點連接到量測儀器上，並 的測試系統中會有許多的信號和電源線以激發或量測 將信號和電源繞接到 DUT 上。它也是許多 (有時甚至是 DUT ，還會使用各式各樣的切換開關以自動接通連線， 難以理解的) 量測誤差來源，因為近距離間如此多的互 如此一來，就需要一個多點的切換系統。在此情況下， 連會提供很多雜訊耦合的機會。 激發信號、電源信號、以及其它信號在系統中交互作用 的結果可能就會產生雜訊並且干擾量測。 雜訊問題只有三種形成的管道。首先，雜訊問題一定會 有一個雜訊源，將雜訊耦合到容易受雜訊干擾的接收器 上，因此若要解決雜訊問題，第一步必須先找出雜訊的 來源，接著要找出感應雜訊的接收點，最後則要查出雜 訊的耦合方式。這並不是一個神秘難解的追查過程，而 是一個可以完全遵循物理定律的流程。雖然有時候，雜 訊源和耦合的方式可能會難以捉摸，但絕對不會違反基 本的原則。 通常，工程師會花相當多的心思來設計一個系統到另一 圖 1 ： 個系統之間的信號路徑，但往往會忽略了回返的路徑。 基 本 的 測 試 系 統 架 一個設計得當的系統會同時定義好信號路徑和回返路 構，幾乎所有的類比、 徑，因為必須要有這兩種路徑才能設計出可以正常運作 數位及電源信號都會 的系統。如果在設計的時候疏忽了回返路徑的話，要追 通過切換子系統。 查出雜訊的問題就會變得困難許多。此外，設計不良的 回返路徑也可能會隨著系統中其它的因素而改變，一條 會改變的回返路徑就像是一個間歇出現的問題，會造成 不想要的雜訊神秘地出沒和侵擾。 需要測試的產品中出現了更高速的邏輯電路，再加上更 測試系統的雜訊來源 敏感的類比電路以後，使得切換系統的設計和實做也必 須異常小心謹慎，才能降低雜訊和維持信號的完整性。 瞭解測試系統中可能引發雜訊的來源對測試工程師而言 特別地重要。列出一份設計原則對於降低不想要的雜訊 這本應用手冊是專為需要開發測試系統的工程師而編寫 確實有幫助，但瞭解哪裡可能會產生雜訊也是非常必要 的，內容探討的是將市面上現成的切換產品和量測儀器 的。在專為測試電子模組所設計的電子測試系統中，最 整合到測試系統中時，如何減少雜訊耦合的問題。 大的雜訊來源包括：傳導性耦合 (conductive coupling) 、 共模阻抗 (common-impedance) 耦合、以及電場和磁場 設計測試系統時，必須要先知道測試信號的頻率和振 等。此外，有些系統也對直流電作用產生的雜訊、熱電 幅，以及測試儀器、切換系統和DUT 的輸入與輸出特性。 耦雜訊、電解作用、摩擦電效應、以及導體移動等雜訊 這本應用手冊所介紹的雜訊減抑方法適用於300 MHz 以 較為敏感。 下的信號頻率、低於250 V 的電壓、小於5 A 的電流、且 電壓和頻率的乘積要小於 107 。在沒有其它參考基礎的 雜訊耦合到電路中最簡單的路徑之一是透過導體帶進 情況下，不建議以推斷的方式將這些解法用於更大的振 去，產生傳導性耦合的雜訊。一條跑經雜訊大的環境的 幅或更高的頻率。