集成材料光学属性监控的光学薄膜一体化检测-IsraVision.PDFVIP

Nr. 732, 22.11.2018 Britta Becker bbecker@ +49 / 2366 / 9300-241 久经行业验证的检测技术，通过创新光源，将高精度质量控制提升至全 新水平 集成材料光学属性监控的光学薄膜一体化检 测 对于电子设备显示屏，用户更倾心于纤薄灵活的设计，为此，也推动了 市场对光学薄膜的需求。这类订单主要来自消费电子领域的大品牌和大 公司，但他们只会购买最优质的产品。这将整个全球市场的质量标准提 升至新的高度。目前，采用专有光源技术的检测系统可帮助制造商在质 量监督方面达到并保持全新水平的精度 –降低生产成本，并最大限度 地提高竞争力和客户满意度。 对于大多数的检测系统，不难检测出凝胶、黑斑和污物等典型缺陷。但 是，光学薄膜制造商要想提高质量水平，就必须考虑产品的更多方面： 细微和/或对比度差的缺陷与划痕，以及材料的不均匀性。即使是最全面 的人工质量控制也可能会漏检缺陷，在很多时候，使用低级摄像机进行 检测同样会出现这样的问题。 自动检测速度虽然快，但无法像人工检测一样改变入射光的角度，因此 难免会漏检某些缺陷。另一方面，人工检测耗时长，且由于肉眼的局限 性，其精度也无法企及自动化系统。综上所述，这