基于半导体位移传感器的磁致伸缩系数计算机测量-大学物理-北京.PDFVIP

第 34卷第 3期 大 学 物 理 Vo1．34 NO．3 2015年 3月 COLLEGE PHYSICS Mar．2015 基于半导体位移传感器的磁致伸缩系数计算机测量 方运 良 ，崔 娟 ，郑源明 (1．广东石油化工学院 理学院，广东 茂名 52500；2．广东石油化工学 院 机电工程学院，广东 茂名 52500 3．上海复旦天欣教学仪器有 限公司，上海 200433) 摘要 ：应用压敏 电阻构成的桥式高灵敏度位移传感器把测量磁致伸缩系数的微位移量转化为电量输出，计算机通过 STM32微控制器对电量信号 同步采集与显示 ，实现对磁致伸缩系数测量的实时监测．测量 的结果准确度较高、样品更换方便、 效率高． 关键词 ：磁致伸缩系数 ；位移传感器 ；STM32微控制器 ；压敏 电阻 中图分类号 ：04-33 文献标识码 ：A 文章编号 ：1000—0712(2015)03—0029—04 通常铁磁体材料 的磁致伸缩系数 的数量级 显示不 出宏观效应．外加磁场后 ，各个磁畴的 自 为 10～～10～．目前 ，磁致伸缩系数 的测量 常用方 发磁化都转 向外磁场方 向，结果导致磁体体积发 法有 2种 (光杠杆法 、电阻应变 片法 )．光杠杆法 生变化 ，于是产生 了宏观磁致伸缩． 常因系统不稳 定会 引起读数误差 ，测量精度 也不 磁致伸缩 效应 的强弱可用磁致伸缩 系数 A 高 ；电阻应变片法是把作为桥臂 的电阻应变片贴 表示 ： 在待测样 品上 ，将样 品长度 的变化转化为桥臂 电 A= ： ㈩ 阻的变化进行测量 ，由于粘贴必须严格按 照工艺 规程 操作 ，还 受 到温 度 、磁 阻效 应等 因素 的影 式 (1)中 f、Z。分别是磁感应强度等于 B和零 时 响 ¨。．为 了克服上述二种方法 的不足 ，笔者设计 的样 品长度 ． 了一种新 的长度微小增量测量方法 ，在劲度系数 2 实验装置简介 小 的弹性梁上粘贴 4个半导体压敏 电阻连接成 非平衡 电桥 ，组成新 的位移传感器 ，测量微小伸 2．1 STM32微控制 系统简介 长量 ．该传感器 由于输 出电量能与计算机直接连 本测量系统采用 ARM公司的STM32微控制器 ， 接 ，实现计算机实时测量 ，过程简单 、快捷 ，样 品 该微控制器集高性能、低功耗 、低成本于一体 ，同时具 更换方便 ，可精确测量铁磁材料 的磁致 伸缩系 备卓越的实时响应 、逻辑处理功能和优异的控制性能 数 ．磁致伸缩效应用处很 多 ，例如 由较大磁致伸 的要求．通过专为 RS一232标准串口设计的电平转换 缩 系数铁磁材料制成 的棒置 于高频 强 电流 的线 芯片MAX232与计算机进行串行通信 ，并以C语言编 圈中，可制成大功率超声波发生器 ，在工业 、医学 写了专用的计算机数据采集与控制软件，实现对电磁 和国防领域 中有重要应用 ． 铁励磁电流大小和方向的控制 ，以及励磁电流信号和 微位移传感器信号的同步采集与显示．测量系统原理 1 实验原理 如图 1所示． 某些 晶体 (特别是铁磁体)在居里温度 以下 电流大小控制 ：计算机软件端通过串行接 口发 时 ，磁性材料 中存在着大量 的