X射线衍射基本实验技术.pptVIP

. 第六章 X射线衍射基本实验技术 解：已知λKα=0.2291， αFe=0.2866nm。由于α-Fe为体心立方钨结构，故H+K+L必为偶数，且 按此式， 越小，相应θHKL也越小。对于α-Fe, 最小的HKL应是110。代入上式，得 考虑峰宽等因素，θ1应略小于θ111，故一般取起始角2θ1为65o。至于2θ2，可先找θ为90o时对应的假想（H2+K2+L2）值，然后定出较假想值略小的真（H2+K2+L2）值，再用真值求出θHKL和2θ2值。为此取θ=90o，代入上式，得假想值为6.260，相应真值即为12+12+22=6。代回上式，得θ112=78.24o，与θ1同样考虑峰宽，终止角θ2应略大于θ112，故取2θ2=158o。 6.3 X射线能量色散测量 能量色散衍射仪结构的组成如图6-19所示，它是由半导体Si(Li)探测器、前置放大器、脉冲放大器、成形器和多道脉冲高度分析器以及计算机系统组成。 图6-19 能量色散衍射仪组成示意图 图6-20 能量色散衍射花样形成 能量色散实验的衍射花样可用爱瓦德图说明（图6-20）。此图表明，即令固定了2θ，对任一HiKiLi球面必然有一个反射球面满足衍射条件而产生HiKiLi衍射。 由于各不同i的衍射线方向与入射线方向的夹角均为2θ，因而无需移动Si(Li)探测器即可测出并记录下试样的整个衍射花样。图6-21为W靶产生的连续辐射和Si(Li)探测器在θ=10.72o上测得的铂多晶衍射花样。 图6-21能量色散衍射仪测定的铂衍射花样 这里，衍射花样以光子能量为横坐标。如以keV为光子能量单位， nm为波长单位，则从X射线的光子能量E与其波长的关系（E=hc/λ）得出 （6-4） 利用上式，从花样上各衍射峰的能量值即可求出各相应射线的波长。将这些波长代入布拉格方程，则不仅能确定试样所属晶系，还可准确算出其晶胞常数。至于有关试样结构的更多信息，则需从衍射峰的强度和形状中解出。 6.4 多晶衍射花样的度量和指数化 这里的度量的含义是指从衍射花样中取出资用的信息，供材料研究或检验使用。指数化则是定出各衍射线的HKL，这对大多数衍射实验来说都是必需的。 各种照相法记录在底片上的多晶衍射花样是由一组较黑且明锐的线环或线段组成，在衬以比较浅的背底。衍射仪记录的花样则是一组强衍射峰和垫于其下的强度变化平缓的背底。 背底来源有二：1）源于试样，诸如，入射线激发试样的荧光X射线、试样的温度散漫射、结构不完整漫散射以及康普顿散射等等；2）源于实验条件，诸如，由X射线管发出的射线中的连续辐射引起的试样衍射，X射线光路中空气、试样黏合剂以及其他的物品的散射，衍射仪探测器及后续电路中的“噪声”等。 由于从背底中取出资用信息殊非易事，故除极精细的实验外，一般工作均将其扣除不用。 I-2θ曲线在扣除背底后提供出的主要信息就是各衍射线的峰形、峰位和峰下面积。 图6-22 德拜花样的测量（a）2l测量；（b）强度测量 6.4.1 峰形和峰位 所有试样的I-2θ曲线上的衍射峰均非极细锐，而是宽化成“山峰状”。宽化的来源也有二方面：（1）试样结构：诸如晶块大小，晶体中有应力等等； （2）实验条件：诸如德拜-谢乐法的入射线细束仍有一些发散，试样柱并非无限细；衍射仪的线焦斑亦非几个细线，板状试样只是准聚集；X射线会透入试样内部等。 图6-23 Kα1和Kα2峰形部分叠合的峰形 图6-24 衍射峰位2θ的确定 峰位对应的2θ是HKL衍射线的真正2θHKL，是最重要的实测数据。对不要求高精细的实验，可直接以山峰顶P0（图6-24）对应的2θ作为2θHKL。 6.4.2 峰下面积 在多晶试样的I-2θ曲线上，任一HKL衍射均以其2θHKL为峰位宽化成一衍射峰。因而任一HKL的衍射强度就不应只以峰位高度充任，而应以峰下面积代表，称为该HKL的累积强度，用IHKL表示。 衍射理论证明 （6-5） 式中（6-5）中 为角因数。为便于理解，将此式改写成 （6-6） 式中N（=1/Va）为单位试样体积的晶胞数（Va为晶胞体积）；FHKL为结构因数； 为距试样R处一个电子散射X射线的强度。 前三项的乘积为单位试样体积的HKL反射线的强度。 E-2M为温度因数，它将强度从绝对零度变换成测量温度下的HKL反射线的强度，其中 B(T)是随温度T正变的函数。温度一定时，试样中θ越大的衍射峰的强度降低越多。 V为被照射的试样体积，令ΔV为试样中能够参加HKL反射的体积，对于一个晶粒取向呈统计均匀分布的多晶试样，各晶粒的HKL法线均匀分布在整个空间，围绕试样作一个半径为r的大球（图6-25），参加反射的试样体积ΔV的HKL的法线落在该球面的环面积上，因此 图6-25 参加HKL反射的试样体积ΔV的计算 即 图6-26 吸收因数A(θ)与θ的关系 A(θ