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8.1 引言 光波可以是大量信息的携带者，不仅光波的位相，颜色、偏振态等都是光信息，而且在光波照明下，二维图像具有大量信息。 以底片为例，设黑白底片最小分辨率单元为0.5?m（完全可以达到），每个单元按黑度分为8个等级（人眼分辨率，计算机可更多），则1cm2面积的底片包含的信息量为b=M?N?k? 3bit。 光学系统作为线性系统，能快速、并行地对图像信息进行处理。 ?光学处理（相干光处理、非相干光处理、白光处理等） 优点：快速，并行性，信息处理容量大，结构简单，操作方便，特别适合于二维的F.T.、卷积、相关等运算 缺点：专用系统不够灵活，难编程，模拟系统精度不高 ?数字图像处理：计算机对图像扫描、抽样量化成数字信息, 串行逐点处理 优点：灵活，可编程，精度高 缺点：基本属于慢速处理，不易实现实时处理 ?混合处理：二者结合，取长补短，是当前的发展方向。 本章主要介绍光学或光/电混合信息处理的基本光学技术的原理和系统。 8.2 相干滤波的基本原理 低通滤波: 激光用空间滤波器 原理:位相物的复振幅透过率 t(x1,y1) = exp[j?(x1,y1)] 单位振幅相干平面波照明(垂直入射) 物场分布为: f(x1,y1) = t(x1,y1) = exp[j?(x1,y1)] 假设位相变化很小,可以进行泰勒展开: 位相滤波:泽尼克相衬显微镜 要观察到与位相变化成正比的强度变化,必须改变二部分光场之间的位相正交关系. 方法:在谱面上用位相滤波器，改变零频与其它频率成分之间的相对位相关系. 如果在中心镀层中不但有位相变化而且有吸收,则可进一步提高像的对比度。 位相滤波:泽尼克相衬显微镜 本章基本要求 熟练掌握阿贝－波特实验的原理和分析方法以及常用振幅滤波器的原理；掌握相衬显微镜的原理及其滤波函数； 实验一 光学信号的抽样与还原 【实验目的】 1．理解抽样定理的数学模型与物理过程； 2．掌握实现光学信号抽样与还原的光学实验过程； 3．学会测量带限信号(函数)频带宽度的方法。 【实验原理】 抽样定理 （略） 具体过程是： (1) 选用带限信号 可选用三角形孔屏或透镜成像实验中的箭屏为信号物，光照在屏上自然成为一个该图样的光学信号（严格的说是准带限光学信号）。 (2) 选用一片光栅 光栅空间频率足够高， 。光栅尺寸大于信号孔，就可以忽略光栅的边框函数。为简便计，设光栅为正弦振幅光栅(位相光栅更好)，其透过率函数为 其中 为光栅空间频率。当光栅紧贴在信号屏上，就实现了抽样，这时样本函数为 (3) 将紧贴了光栅的信号屏置于物面P1。通过透镜的变换，频谱面上得到样本函数的频谱，即 以上式中*为卷积运算。此时我们看到在频率平面上，分布着的0级、+1级和-1级频谱分量，只要 ，则各分量就不会重叠。以上采用的正弦振幅型光栅，若采用位相型光栅，频谱面上的分量还会更多(理论上是无限多)。 (4) 滤波器 选用可调狭缝作为滤波器(狭缝宽度刚好2w)。将其插入图8.18中的P2，调节可调狭缝的横向调节机构就可以使样本函数的某级谱通过系统(设零级谱通过了滤波器)，系统的输出频谱为 (5) 逆傅里叶变换还原信号本身 由滤波器出来的频谱经L2透镜变换获得 由于透镜只能进行正变换，因此上式里x、y多一个负号，反映在图像上就是图形和原物相比是倒置的，如果取反射坐标，那么，我们就得到原信号本身，也就是还原了信号。 【实验仪器】 OIP-I光学信息处理系统1台，He-Ne激光器(或半导体激光器)1台，游标卡尺1把。 【实验内容】 1 各元件等高共轴及平行光的调节 ① 调节激光器发出的激光束与光具座平行 调节激光束平行光具座：打开激光器，将小孔屏置于光具座上，使激光束通过小孔，然后将小孔屏远离激光器，调节激光器的俯仰、左右位置，使激光束通过小孔。如此反复调节，直至在近处和远处均能使激光束通过小孔。 ②各光学元件等高共轴调节：排布光路，顺序是准直镜，傅里叶透镜等，调节高度、作用位置，偏转等使光束通过各光学元件光轴中心。使它们等高共轴后再加入扩束镜。 ③ 调节激光束经过扩束镜、准直镜后发出的光为平行光 仔细调节扩束镜与准直镜之间的距离，将白屏放置在准直镜后，若前后移动白屏，白屏上的光斑大小不变，则表示准直镜发出的光为平行光。 2．将物屏(三角形屏、园孔屏、箭屏或1字屏均可)插入P1平面，在P2平面放一白屏，将观察到信号的频谱。用游标卡尺测频谱在水平方向(x2方向)上的尺寸 。测完后白屏不拿掉。 3．