第1章 光电检测技术中的基础知识.pptVIP

辐射度学的基本物理量 光度学的基本物理量 光电检测器件的类型 光电检测器件是利用物质的光电效应把光信号转换成电信号的器件. 光电检测器件分为两大类: 光子(光电子)检测器件 热电检测器件 光电检测器件 光电检测器件的特点 噪声在实际的光电探测系统中是极其有害的。 由于噪声总是与有用信号混在一起，因而影响对信号特别是微弱信号的正确探测。 一个光电探测系统的极限探测能力往往受探测系统的噪声所限制。 所以在精密测量、通信、自动控制等领域，减小和消除噪声是十分重要的问题。 热噪声 散粒噪声 产生-复合噪声 1/f噪声 温度噪声 1、热噪声 或称约翰逊噪声，即载流子无规则的热运动造成的噪声。 导体或半导体中每一电子都携带着电子电量作随机运动(相当于微电脉冲)，尽管其平均值为零，但瞬时电流扰动在导体两端会产生一个均方根电压，称为热噪声电压。 热噪声存在于任何电阻中，热噪声与温度成正比，与频率无关，热噪声又称为白噪声。 3、产生-复合噪声 半导体受光照，载流子不断产生-复合。 在平衡状态时，在载流子产生和复合的平均数是一定的 但在某一瞬间载流子的产生数和复合数是有起伏的。 载流子浓度的起伏引起半导体电导率的起伏。 产生-复合噪声电流均方值 式中, I为器件输出总的平均电流； N0为总的自由载流子数； 为载流子寿命； f为测量噪声的频率。 7、量子效率?（?） 量子效率：在某一特定波长上，每秒钟内产生的光电子数与入射光量子数之比。 对理想的探测器，入射一个光量子发射一个电子， ?=1 实际上，? 1 量子效率是一个微观参数，量子效率愈高愈好。 2、散粒噪声 随机起伏所形成的噪声称为散粒噪声,也叫散弹噪声。 入射到光辐射探测器表面的光子是随机起伏的； 光电子从光电阴极表面的逸出的是随机的； PN结中通过结区的载流子也是随机的； 它们都是一种散粒噪声源。散粒噪声电流的表达式为 式中，q为电子电荷； I为器件输出平均电流； ?f为所取的带宽。 散粒噪声也是与频率无关、与带宽有关的白噪声。 散粒噪声是光电探测器的固有特性，对大多数光电探测器的研究 表明：散粒噪声具有支配地位。例如光伏器件的PN结势垒是产生散粒噪声的主要原因。 4、1／f噪声（闪烁噪声或低频噪声） 这种噪声的功率谱近似与频率成反比，故称1/f 噪声。其噪声电流的均方值近似为 式中 , 接近于2； 在0.8～1.5之间； c是比例常数。 、 、c值由实验测得。 在半导体器件中1／f噪声与器件表面状态有关。多数器件的1/f 噪声在300Hz以上时已衰减到很低水平，所以频率再高时可忽略不计。频率越低噪声越大 5、温度噪声 由于器件本身温度变化引起的噪声称为温度噪声。温度噪声电流的均方值为 式中,Gt为器件的热导； ＝Ct／Gt是器件的热时间常数， Ct是器件的热容； T是温度(K)。 在低频时， 1 ；上式可简化为 低频时温度噪声也具有白噪声的性质。？？ 上述各种噪声源的功率谱分布可用下图表示。 由图可见；在频率很低时，l／f 噪声起主导作用；当频率达到中间频率范围时，产生-复合噪声比较显著；当频率较高时，只有白噪声占主导地位，其它噪声影响很小了。？？ 五种噪声都与Δf有关，Δf 是等效噪声带宽，简称为带宽。若光电系统中的放大器或网络的功率增益为A(f)，功率增益的最大值为Am(下图所示)，则噪声带宽为 ? 1.4.2. 光电探测器的特性参数 ? 1.响应率 探测器的输出信号电压Vs或电流Is与入射的辐射通量 之比，称为电压响应率或电流响应率Sv Sv的单位为v／w，SI的单位为A／W。 2.光谱响应率 探测器在波长为的单色光照射下，输出的电压Vs( )或电流Is( )与入射的单色辐射通量 ( )之比称为光谱响应率。即 Sv( )或SI( )随波长的变化关系称为探测器的光谱响应曲线。响应率与光谱响应率的区别是什么？ 3.等效噪声功率（NEP） 如果投射到探测器敏感元件上的辐射功率所产生的输出电压（或电流）正好等