片上网络通信架构的BIST测试方法.PDFVIP

研 究 与开发 研 究与开发 片上网络通信架构的 BIST 测试方法 * 欧 阳一 鸣 ，牛丽义 ，梁 华 国 （合肥 工业 大学计算机 与信 息学院 合肥 230009 ） 为 了保 证 （ ，片上 网络 ）中 核 之 间 的正 确 通 信 ，需 要 对 片上 网络通 信 架 构 进 行 测 摘 要 NoC network on chip IP 试 。 本 文针 对 Mesh NoC 的功 能测试 ，提 出 了一 种测试 通信 架 构 的 BIST （built-in self test ，内建 自测试 ） 方 法 。该 方 法 在 （ ，资源 网络接 口）中添加 模 块 （ ，测试 NI network interface BIST TPG test pattern generator 向量 产 生 器 ）和 （ ，测 试 响应 分 析 器 ） ，利 用 产 生 测 试 数 据 ， 分 析 测 TRA test response analyzer TPG TRA 试 响应 ，来 实 现通信 架 构 的测试 过程 。实验结果 表 明 ，该 方 法 在增 加 面积 开销较 小 的情 况 下 ，不仅 降低 了测试 成本 ，还 降低 了测试 时 间 。 关键 词 片上 网络 ；通 信 架 构 ；功 能 测 试 ；内建 自测 试 信 架 构 的测 试 ， 后 者 则 又 可 以分 为路 由器 和链 路 的测 试 。 1 引言 对 于 IP 核 的测 试 ，参 考 文 献 ［2］ 和 ［3］都 采 用 重 用 NoC 通 信 集 成 电路 制 造 工 艺 持 续 发 展 ，电子 元 件 的特 征 尺 寸 步 架 构 作 为 测 试 访 问机 制 （test access mechanism， TAM ）的方 入 了纳 米 时代 ，在 未 来 若 干 年 内 ，特 征 尺 寸 将 持 续 缩 小 到 法 ， 不 同之 处 在 于 如 何 重 用 NoC 的资 源 构 造 出更 有 优 势 32 nm ，甚 至 22 nm 。 从 而 ，在 一 颗 芯 片 上 会 出现 数 十 甚 至 的 TAM ，实 现 测 试 并 降 低 测 试 时 间 。 参 考 文 献 ［4］ 则 利 用 数 百 个 处 理 器 联 合 工 作 的超 复 杂 电路 系 统 。 以传 统 的共 享 NoC 的高 带 宽 ，设 计 出多 时钟 机 制 划 分 时 间槽 ，让 IP 核 分 总 线 互 连 为 通 信 基 础 的 SoC （system on chip ）将 面 临 着 由 在 不 同 的时 间槽 里 测 试 ，从 而 降低 测 试 时 间 。 对 于 NoC 通 地 址 空 间有 限导 致 的扩 展 性 较 差 、分 时通 信 导 致 的通 信 效 信 架 构 中路 由器 的测 试 ，在 结 构 故 障模 型 的基 础 上 ，可 以 率 较 低 、全 局 同步 导