聚合物发光二极管中可逆的不稳定行为中国科技论文在线.PDF

　第 21 卷第 6 期 半　导　体　学　报 . 21, . 6 V o l N o 　2000 年 6 月 CH IN ESE JOU RNAL O F SEM ICONDU CTOR S June, 2000 聚合物发光二极管中可逆的 不稳定行为 1 1 1 1 1 1 1 刘恩峰 　熊绍珍 　赵　颖 　谢伟良 　吴春亚 　周祯华 　胡景康 2 2 3 3 4 张文伟 　申金媛 　陈建胜 　张苑岳 　张丽珠 ( 1　南开大学 光电子所, 天津　300071) ( 1　半导体材料科学开放实验室, 北京　100083) (2　国家教育部 光学信息技术科学开放研究实验室, 天津　300071) (3　中山大学 电子机械研究中心, 广州　510275) (4　天津机电工业学校, 天津　300071) 摘要: 研究了存在于聚合物发光二极管(PL ED ) 中的一种可逆的“负阻”现象及短期衰退行为. 当加在 上的正向偏压大于 10 之后, 其电流和发光强度将在某偏压下出现突然的转折, PL ED V 即电流或光强骤增而器件上压降减小. “负阻”现象将随测量次数的增加而逐渐消失. 采用 CCD 摄像头摄取发光象素上发光的变化情况的图像, 发现光强的突变与电流的突变是相对应的. 对 以不同极性脉冲偏置观察发光光强的短期衰退情况时发现, 反向偏置有助于抑制正向的发光衰 退行为. 我们初步认为这些现象可能与 PL ED 中存在的缺陷态及其上电荷的填充状况有关. 关键词: 有机发光二极管; 负阻效应; 可恢复的短期衰退; 界面处的缺陷 : 7860 ; 7320 ; 7340 PACC F H G 中图分类号: TN 383　　文献标识码: A 　　文章编号: (2000) Recoverable Un stable Phenom ena in PL ED 1 1 1 1 1 , , , , , L IU En feng X ION G Shao zhen ZHAO Y ing X IE W ei liang W U Chun ya