基于残差变化率的单相级联H桥整流器IGBT开路故障诊断.IGBT电控.pdfVIP

2018 年 8 月 电 工 技 术 学 报 Vol.33 No. 16 第 33 卷第 16 期 TRANSACTIONS OF CHINA ELECTROTECHNICAL SOCIETY Aug. 2018 DOI: 10.19595/ki.1000-6753.tces.180484 基于残差变化率的单相级联H 桥整流器 IGBT 开路故障诊断 谢 东1,2 葛兴来2 （1. 磁浮技术与磁浮列车教育部重点实验室（西南交通大学） 成都 611756 2. 西南交通大学电气工程学院 成都 611756 ） 摘要 为实现单相级联H 桥整流器（SPCHBR ）的IGBT 开路故障实时诊断，提出一种基于 残差变化率的 IGBT 开路故障诊断方法。首先建立 SPCHBR 的混合逻辑动态模型（MLD