同步选择离子检测M全扫描（SIMScan）提高分析效率技术报告-Agilent.PDFVIP

同步选择离子检测/全扫描（SIM/Scan） 提高分析效率 技术报告 气相色谱/质谱 作者 集方式。在许多实验室中，全扫描是最常用的数据采 集方式，因为它容易设置，还能用谱库检索进行化合 Chin-Kai Meng 物确证。而 SIM 模式，与全扫描模式相比可以提供 Agilent Technologies, Inc. 2850 Centerville Road 更高的灵敏度。但是，选择离子检测数据不能用商业 Wilmington, DE 19808-1610 的全扫描谱库检索进行匹配确证。安捷伦同步选择离 USA 子检测/全扫描模式在一次进样中将 SIM 和全扫描很