米格试验室-超级电镜中心北京电镜基地1设备名称JEM-ARM200F.PDF

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2019-03-23 发布于天津
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米格试验室-超级电镜中心北京电镜基地1设备名称JEM-ARM200F.PDF

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米格实验室-超级电镜中心北京电镜基地 1. 设备名称：JEM-ARM200F 冷场发射双球差校正扫描透射电镜（北京）技术指标： 1.分辨率：STEM 0.078 nm；TEM0.11 nm 2.放大倍数：STEM 200 to 150,000,000x TEM 50 to 2,000,000x 3.加速电压： 80kV,200 kV 配置情况： 1.STEM-EELS+STEM-EDS 2.JEOL STEM Detector （BF/ABF/HAADF） 3.Gatan STEM Detectors(for EELS) 4.聚光镜与物镜双球差校正器擅长样品：型号：JEM ARM 200F 单原子催化、纳米粉体、半导体多层膜、金属材料、锂电池材料 ARM 200F 在保证亚纳米分辨率0.078nm 的同时，能量分辨率提高到0.3eV，极大增强了原子级观察和原子级分析能力。现在米格实验室新增的这台Grand-ARM 200F 配置更加高端，堪称一件分析“利器”。 Arm200F 共有两台仪器：总体机时数量：200h/年+500/年，购置后可以预约，预约周期1~2 周球差电镜机时数（h）单价（元）总价（元） ACTEM Arm200F X10 3500 3500*X ACTEM Arm200F 10 3000 30,000 ACTEM Arm200F 20 2500 50,000 ACTEM Arm200F 50 2000 100,000 为用户提供严谨的检测环境、专业的检测方案 2. 设备名称：场发射透射电子显微镜F20 HRTEM （北京）技术指标： 1.放大倍数：25倍到105万倍 2.加速电压：200kV 3.点分辨率：0.24nm，STEM 分辨率0.19nm 4.能谱能量分辨率 129eV, 元素测量范围 Be-U 服务内容： 1.高分辨透射像 HRTEM 2.明场像/暗场像 BF/DF