半导体设备厂流程再造与绩效指标建构-eTop-工程科技推展平台.PDFVIP

行 流 精 類 行 年年 行 林 參理 理 理 理 利 精 年 年 行政院國家科學委員會補助產學合作研究計畫成果精簡報告 半導體設備廠流程再造與績效指標建構 計畫類別： □ 先導型 □開發型 ■技術及知識應用型 計畫編號： NSC 99 －2622 －E －033 －013 －CC3 執行期間： 99 年 06月 01日至 100 年 05月 31日 執行單位：中原大學 明新科技大學 計畫主持人：項衛中 共同主持人：林於杏 計畫參與人員： 吳東榮、舒苡瑄、陳薏瑄 中文摘要 本研究欲協助半導體設備廠流程再造與關鍵績效指標之建構，將企業所要達到的目標 與績效指標予以結合。採用限制理論邏輯思考的方法，進行專家訪談，蒐集問題。透過現 況樹找出四個核心問題，並運用分析層級程序法評選出關鍵問題與關鍵品質要素，經由專 家評估後，進行對策整合並化解衝突以擬定行動方案與執行準則。關鍵問題為「無完善標 準制度規章」，關鍵品質要素為「降低缺料率」，並訂定對應之六項關鍵績效指標為：缺料 率、外包品質不良率、供應商入庫良率、原材料周轉天數、燒機不良率及組裝效率。本研 究將所要管控的問題與績效指標予以結合，並進行表單設計與流程再造，輔助分析與掌握 現場缺料狀況、釐清停工待料原因及責任歸屬，協助個案公司進行持續改善。 本研究最大的貢獻為運用限制理論與分析層級程序法找出關鍵問題並訂定相關的關鍵 績效指標，進而提出對應之行動方案與執行準則。本研究對於半導體設備廠的流程再造與 績效指標建構具有實質的成效，使目標更為有效貫徹至各階層，並對主要問題加以釐清與 解決，因而強化企業的競爭與執行能力。此 外，參與計畫的學生也了解到產業的作業模式， 對未來畢業任職於業界有具體的幫助，相關研究成果也發表於國內外研討會與期刊，以供 學術交流並當後續研究之參考。 關鍵字 限制理論、分析層級程序法、關鍵績效指標: Abstract The demand for electronic product market changes frequently; therefore, equipment manufacturers must be flexible enough to meet market demand and their operation status affects not only the survival of their enterprises themselves but also affects the overall operation of the semiconductor supply chain. Equipment manufacturer usually sets an annual goal for the whole operations, and the plant also uses performance indicators for performance evaluation. However, performance indicators sometimes failed to closely coordinate with the overall goal, in such a case,