TVS二极管失效分析.pdfVIP

摘要：常用电路保护器件的主要失效模式为短路，瞬变电压抑制器(’IvS)亦不例外。TvS 一旦发生短路失效，释放出的高能量常常会将保护的电子设备损坏．这是TvS 生产厂家 和使用方都想极力减少或避免的情况。通过对TVS 筛选和使用短路失效样品进行解剖观 察获得其失效部位的微观形貌特征．结合器件结构、材料、制造工艺、工作原理、筛选 或使用时所受的应力等。采用理论分析和试验证明等方法分析导致 7rvS 器件短路失效 的原因。分析结果表明引发TvS 短路失效的内在质量因素包括粘结界面空洞、台面缺陷、 表面强耗尽层或强积累层、芯片裂纹和杂质扩散不均匀等。使用因素包括过电应力、高 温和长时间使用耗损等。 1 引言* I! W: q/ k, w z : O3 W6 M7 Q/ T( s% Y E$ w 瞬变电压抑制器（ TVS ：Transient Voltage Suppressor ）是为了解决电子设备电 压瞬变和浪涌防护问题而设计出的一种高性能的电子电路保护器件，瞬变电压抑制二极 管，主要用于对电路进行瞬态保护。当TVS 管两端经受瞬间的高能量冲击时，它能以极 高的速度把两端间的阻抗变为低阻抗，吸收一个大电流，从而把它两端间的电压钳制在 一个预订的数值上，保护后面的电路原件不因瞬态高电压冲击而损坏。国内外在电子产 品和国内高可靠设备中的应用都十分普遍。随着TVS 使用范围和使用数量的增加，TVS 自身的可靠性备受关注，因为TVS 可靠性不仅是TVS 本身的问题，还关系到被保护电 子电路的使用可靠性。研究TVS 的可靠性须对TVS 的失效模式和失效机理有深入的了 解。文献表明TVS 的失效模式有短路、开路和电特性退化。其中，短路失效最为常见， 且对电路的影响最为严重。目前，国内对国产 TVS 短路失效机理的研究缺乏深度，不 够系统，因此，对国产TVS 短路失效机理进行深入、系统的研究十分必要。 c3 w p+ g I7 {2 [ 2 TVS 短路失效样品和失效分析程序 7 K+ b- I V* z. O3 { 在国内主要TVS 生产厂商的支持下，搜集了有关国产TVS 筛选和使用中短路失效 的样品和筛选应力条件或使用条件等失效数据，对这些样品进行电参数测试、开帽、去 保护胶、管芯与电极分离、去焊料和显微观察等步骤，找出失效部位，分析引发TVS 短 路失效的内在质量因素或使用因素，以及失效的发生过程。其中内在质量因素即与器件 设计、材料、工艺、组装、封装相关的引起器件失效的因素；使用因素即除内在质量因 素以外的引起器件失效的因素，通常与过电引力、静电放电、过载、错误使用等相关。 ) ]8 o! r# u6 C. g7 ^ 3 引发TVS 短路失效的内在质量因素和失效机理5 Z7 N6 g! P {( i! [- v TVS 器件主要由芯片、电极系统和管壳3 部分构成。其中芯片是核心，通常在单 晶硅片上采用扩散工艺形成。将扩散好的芯片经过腐蚀成台面状、芯片镀镍、烧焊、涂 保护胶、封帽、点焊上引线、外引线镀锡等工序便完成TVS 器件的制造。如果TVS 制 造工艺过程中控制不良， 则可能造成TVS 器件的固有缺陷，使 TVS 成品率和可靠性 降低，在筛选或使用中容易失效。TVS 筛选短路失效样品分析和统计表明，TVS 引发 筛选短路的内在质量因素有很多，各因素的比例如图 1 所示。这些因素也是使用中引 发TVS 短路失效的主要内在质量因素。 ! N1 C7 C2 j: W% g0 o 图1-引发TVS 筛选短路失效的内在质量因素分布 X* h% Q5 G [% o5 e5 I { N7 ^1 a ( ]$ W V6 Q/ I1 v F- c1 L0 X 3.1 芯片粘结界面空洞2 Q: z8 A- q- c 引发TVS 短路的最典型的原因是管芯与内引线组件、底座铜片烧结不良，在烧结 界面出现大面积空洞，如图2 所示。 8 ` k. O Y: @+ _, F; |) w2 x * W# O( U) @% K/ ` 图2-TVS 粘结界面空洞 8 J% G3 N1 ?# g1 V 空洞可能是由于焊料不均匀或粘结界面各层材料玷污、氧化使焊料沾润不良，造成 烧焊时焊料与芯片或金属电极没有良好的熔合焊接引起的。