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基于NINO芯片的TOT读出电子学系统研究;1.TOT原理
2.NINO芯片及测试板介绍
3.测试结果
4.总结;1.TOT原理;TOT传统设计思路：
分立的放大器和甄别器芯片+TDC芯片
TOT设计新思路：
ASIC芯片+TDC。
如:
BABAR探测器的ATOM；
CAMPASS实验中的SFE16；
ALICE和STAR中采用的NINO。
;2.NINO芯片及设计的测试板介绍;NINO：线性放大范围：0~100fC
全差分信号处理技术
低噪声和宽带放大（500MHz）设计
单通道阈值：10fc~100fc
输出信号前沿：1ns
HPTDC测试前沿抖动25ps;基于NINO的测试板结构框图 实物图;3.测试结果;3.1 噪声：;3.2 时间精度：
; 时间测量精度与输入信号前沿关系;输出信号时间宽度与输入信号幅度关系;3.3 NINO芯片的低阈值带来的误触发;4.总结;谢谢！;本PPT为可编辑版本，以下内容若不需要请删除后使用，感谢您的理解，祝您生活愉快，事业有成，身体健康，万事如意。;;本PPT为可编辑版本，此内容若不需要请删除后使用，感谢您的理解，祝您生活愉快，事业有成，身体健康，万事如意。;本PPT为可编辑版本，此内容若不需要请删除后使用，感谢您的理解，祝您生活愉快，事业有成，身体健康，万事如意。
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