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·电气与自动化 · 刘西锋，等 ·基于轮廓提取的电路板缺陷检测 - ＤＯI:1０.1９３44/ ｊ.ｃnｋｉ.ｉｓｓn1６71 ５２7６.２０1８.０２.０47 基于轮廓提取的电路板缺陷检测 刘西锋，胡玉薇 (北京京仪仪器仪表研究总院有限公司，北京 1０００7８) 摘 要:针对目前工业领域对多层电路板缺陷检测高效高精度的要求，在工业计算机分层成像 的基础上，设计了一种基于轮廓提取技术的多层电路板缺陷自动检测系统。 通过随机 Hｏｕｇｈ 变换检测出电路板定位圆的圆心坐标，再对目标图与标准图进行几何配准。 同时对电路板裸 板中常见的缺陷类型进行分析和研究，采用轮廓提取算法进行缺陷分类，并对缺陷类型进行了 相应的标记，解决了传统ＤＲ和自动光学检测技术AＯI对多层电路板无法进行内部电路分析 的问题。 关键词:印刷电路板；缺陷检测；轮廓提取；图像配准 中图分类号:ＴＢ３９1 文献标志码:A 文章编号:1６71-５２7６(２０1８)０２-０171-０4 PＣＢ Ｄｅｆｅｃt Iｎｓｐｅｃtioｎ Ｂａｓｅｄ oｎ Ｃoｎtoｕｒ Ｅｘtｒａｃtioｎ ＬIＵ Ｘｉｆｅnｇ，HＵ Ｙｕｗｅｉ (ＢｅiｊiｎｇＡｕtｏｍatiｏｎTｅｃｈｎiｃal Ｒｅｓｅaｒｃｈ Iｎｓtitｕtｅ，Ｂｅiｊiｎｇ 1０００7８，Ｃｈiｎa) Ａｂｓtｒａｃt:Tｈｅ ｄｅｆｅｃt iｎｓｐｅｃtiｏｎｓｙｓtｅｍｏｆ ｍｕltilaｙｅｒ ｐｒiｎtｅｄ ｃiｒｃｕit ｂｏaｒｄｓ ｂaｓｅｄ ｏｎｃｏｎtｏｕｒｅｘtｒaｃtiｏｎ iｓ ｄｅｓiｇｎｅｄ ｏｎtｈｅ ｂaｓiｓ ｏｆ iｎｄｕｓtｒialｃｏｍｐｕtｅｒ laｍiｎｏｇｒaｐｈｙ. It ｍｅｅtｓ tｈｅ ｒｅｑｕiｒｅｍｅｎtｓ ｏｆ itｓ ｈiｇｈ ｅｆｆiｃiｅｎｃｙ aｎｄ ｈiｇｈ ｐｒｅｃiｓiｏｎ iｎ iｎｄｕｓtｒｙ ｆiｅlｄ. Tｈｅ Ｈｏｕｇｈ tｒaｎｓｆｏｒｍatiｏｎ iｓ ｕｓｅｄ tｏ ｄｅtｅｃt tｈｅ lｏｃatiｏｎｏｆ tｈｅ ｃiｒｃlｅ ｃｅｎtｅｒ ｏｎ tｈｅ taｒｇｅt ｐiｃtｕｒｅ，aｎｄ tｈｅｎ tｈｅ taｒｇｅt iｍaｇｅ iｓ aｄｊｕｓtｅｄ tｏ tｈｅ ｓtaｎｄaｒｄ iｍaｇｅｗitｈｇｅｏｍｅtｒiｃ ｒｅｇiｓtｒatiｏｎ.Tｈｅｄｅｆｅｃttｙｐｅｓｏｆ ＰＣＢaｒｅｄiｓｃｕｓｓｅｄ.Tｈｅｃｏｎtｏｕｒｅｘtｒaｃtiｏｎｗitｈｐattｅｒｎｒｅｃｏｇｎitiｏｎiｓ aｐｐliｅｄ tｏ tｈｅ ｐｏｓitiｏｎｓ aｎｄ ｃlaｓｓｅｓｏｆtｈｅｄｅｆｅｃtｓ. It iｓｄiｆｆiｃｕlttｏｇｅt aｆｕllaｎｄaｃｃｕｒatｅｃiｒｃｕit iｍaｇｅｏｆ ｅｖｅｒｙ laｙｅｒaｎｄtｈｅ ｐｏｓitiｏｎ ｏｆ tｈｅ ｄｅｆｅｃtｓ ｕｓiｎｇtｈｅ ＤＲｍｅtｈｏｄ aｎｄ ＡＯIｓｃaｎｎiｎｇ ｍｅtｈｏｄｓ. Ｋｅｙｗoｒｄｓ:ｍｕltilaｙｅｒ ｐｒiｎtｅｄ ｃiｒｃｕit ｂｏaｒｄｓ；ｄｅｆｅｃt iｎｓｐｅｃtiｏｎ；iｍaｇｅ ｒｅｇiｓtｒatiｏｎ；ｃｏｎtｏｕｒｅｘtｒaｃtiｏｎ 考比较法是目前使用最广泛的方法，但是这种方式的检测 ０ 引言 精度不高，运算速度慢，某些特定种类的缺陷分析起来比 较困难。