基于测试向量中不确定位的漏电流优化技术-中国科学院.PDF

第 期 电 子 学 报 2 Vol.34 No.2 年 月 2006 2 ACTA ELECTRONICA SINICA Feb. 2006 基于测试向量中不确定位的漏电流优化技术 1 2 2 1 王 伟 ,韩银和 ,李晓维 ,张佑生 ( 合肥工业大学计算机与信息学院,安徽合肥 ; 中国科学院计算技术研究所先进测试技术实验室,北京 ) 1. 230009 2. 100080 摘 要: 众所周知, 电路测试时由漏电流引起的漏电流功耗在测试功耗中处于重要地位 降低测试 CMOS . 时的漏电流对于延长需要周期性自测试的便携式系统电池寿命、提高测试的可靠性和降低测试成本都至关重要. 文章首先分析了漏电流的组成,和与之相关的晶体管的堆栈效应 然后,我们提出了一种基于测试向量中不确定 . 位( 位)、使用遗传算法优化集成电路测试时漏电流的方法 实验结果证明在组合电路和时序电路测试中该方法 X . 能够在不影响故障覆盖率的条件下,有效优化测试时电路的漏电流. 关键词: 漏电流;不确定位;遗传算法 中图分类号: 文献标识码: 文章编号: ( ) TP391.76 A 0372-2112 2006 02-0282-05 TechniuesofLeakaeCurrentO timizationBased q g p ’ onDon tCareBitsinTestVectors 1 2 2 1 , , , WANG Wei HAN Yin-he LIXiao-wei ZHANG You-shen g ( , , , , ; 1.Sch ch h230009 h