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第 40 卷 第 5 期 ( ) 2005 年 10 月
山 东 大 学 学 报 理 学 版
Vol. 40 No. 5 JOURNAL OF SHANDONG UNIVERSITY Oct. 2005
( )
文章编号 2005
光源宽度与干涉条纹可见度的关系
王世平
(天津城市建设学院 基础学科部 ,天津 300381)
摘要 :在双缝干涉实验中 ,所用光源若是有一定宽度的 ,则屏上干涉条纹的可见度将受到一定的影响. 当宽到一定
程度时 ,屏上干涉条纹的可见度将下降到不可观测的程度. 推导出了屏上不可观测的情况出现时所用光源的最大
允许宽度.
关键词 :干涉条纹 ;光源宽度 ;可见度 ;光程差
中图分类号 :O436. 1 文献标识码 :A
Relationship between width of light source and visibility of interference streak
WANG Shiping
( )
Department of Basic Courses , Tianjin Institute of Urban Construction , Tianjin 300381 , China
Abstract :The visibility of the interference streak on a distant screen will be affected when the light source there has a certain
width in a doubleslit interference experiment. The visibility of the interference streak on the screen will decline to invisible level.
The paper derives the quantitative relation to maximum admitted width of the light source used when unobservable circumstance on
the screen appears.
Key words : interference streak ; width of light source ; visibility ; optical distance difference
可见度降低的程度与线光源的宽度有什么定量的对
0 引言 应关系呢 ?
在杨氏双缝干涉实验[1 ] 、菲涅尔双镜 、菲涅尔双 设光源为单色光 , 即假设光源的时间相干性很
好 ,并且设所使用的光源线宽度为 a , 且放在相对于
棱镜 、洛埃镜等干涉实验中 ,所用光源均为宽度很窄
双缝为对称的位置
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