基于C8051F410数字集成电路测试仪的设计.pdfVIP

设计与研发 2014.6 基于C8051F410数字集成电路测试仪的设计 于维佳 (柳州铁道职业技术学院电子技术学院，广西柳州，545007) 摘要：开发了一种数字集成电路测试仪，该测试仪以 C8051F410 微控制器为核心，用户可针对不同待测芯片来选择 +3.3V 或 +5V 电源供电，操作界面与测试结果通过液晶显示屏进行人机交互，能够对常用的 74 系列数字集成电路芯片进行快速、稳定 的功能性测试。 关键词 ：数字集成电路；测试仪；C8051F410；液晶显示 Design of the Testing Instrument for Digital IC Based on C8051F410 Yu Weijia (Liuzhou Railway Vocational Technical College,Liuzhou Guangxi,545007) Abstract ： A testing instrument is developed for digital IC.Functional testing of the frequently-used 74 series digital ICs could be done quickly and steadily by this instrument,which is based on microcontroller C8051F410.User could choose +3.3V or +5V power supply for different IC.The operation interface and the test result is showed on LCD module. Keywords ： Digital IC;Testing Instrument;C8051F410;LCD 0 引言 该测试仪的硬件结构包括中央控制模块、人机界面模块、电 源电路与芯片测试插座，如图 1 所示。用户可通过按键，在液晶屏 在电子产品开发或相关实验实训教学中，经常使用到大量数 显示界面中选择待测芯片型号，命令中央控制模块对插座上的待 字集成电路，很多场合下会遇到芯片失效的情况。损坏的数字集 测芯片进行功能性的测试，并记录测试结果。 成电路芯片增加了电路系统的调试难度，而在使用芯片之前，却 1.2 电源电路设计 又无法通过常用的仪器仪表检测其功能是否正常。 测试仪整机电路原理图如图2所示。 针对上述问题，设计了一种数字集成电路测试仪。该测试仪 电源电路包括两个三端稳压器 AMS1117-5 与 AMS1117-3.3， 能够对封装为 20 脚或以下双列直插的数字芯片进行功能验证， 用于提供测试仪所需的 +5V 与 +3.3V 工作电压，在使用中可根据 允许待测芯片的供电电压为 +3.3V 或 +5V，适用于大多数常用的 待测芯片的要求，工作电压 VCC 可以通过单刀双掷开关（S1）选择 数字集成电路测试，采用液晶显示，按键控制。