基于方位谱分析探究的斜视TOPSSAR子孔径成像方法.pdfVIP

第36卷第4期 电 子 与 信 息 学 报 Vo1．36NO．4 2014年 4月 JournalofElectronics＆InformationTechnology Apr．2014 基于方位谱分析的斜视 TOPSSAR子孔径成像方法 杨 军 孙光才 吴玉峰 邢孟道 (西安电子科技大学雷达信号处理国家重点实验室 西安 710071) 摘 要：斜视TOPSSAR成像处理需要解决3大问题：方位频谱混叠，距离和方位耦合严重，方位输出时域混叠。 针对上述 问题，该文提出一种基于谱分析的子孔径成像处理方法。首先对子孔径数据在时域适当进行扩展并获取无 模糊的2维频谱，然后采用修正的距离徙动算法进行距离徙动校正和距离脉冲压缩，最后在方位频域对子孔径信号 进行拼接处理，获得全孔径信号无模糊的方位频谱并结合谱分析技术将信号聚焦在方位频域。仿真结果验证了该算