TEC-5计算机组成原理实验及设计内容资料.pptVIP

三 数据通路组成实验 进一步熟悉计算机的数据通路； 将双端口通用寄存器堆和双端口存储器模块联机； 掌握数字逻辑电路中故障的一般规律，以及排除故障的一般原则和方法； 锻炼分析问题与解决问题的能力，在出现故障的情况下，独立分析故障现象并排除故障。 * TEC-5 计算机科学与技术学院系统结构实验室 实验电路 * TEC-5 计算机科学与技术学院系统结构实验室 实验设备 TEC - 5计算机组成原理实验系统1台； TDS1001数字存储示波器1台； 逻辑测试笔1支。 * TEC-5 计算机科学与技术学院系统结构实验室 参考连线： 数据通路 RS0 RS1 RD0 RD1 WR0 WR1 LDRi LDDR1 模拟开关 K0 K1 K2 K3 K4 K5 K6 K7 数据 通路 RS_ BUS# SW_ BUS# ALU_ BUS# RAM_ BUS# LR/W# CEL# LDAR# 模拟 开关 K8 K9 K10 K11 K12 K13 K14 数据通路 AR+1 CER# Cn# M S0 S1 S2 S3 模拟开关 地 VCC VCC 地 地 地 地 地 * TEC-5 计算机科学与技术学院系统结构实验室 实验任务 将实验电路与控制台的有关信号进行线路连接，方法同前面的实验。 用8位SW7—SW0数