IGBT模块认证测试规范V2.0.docVIP

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测试部规范文件 第 PAGE 7 页 共 NUMPAGES 40 页 测试部规范文件 测试部测试规范 英威腾电气股份有限公司 测试部 规范编码: 版 本:V2.0 密 级:机 密 生效日期:2011.3 页 数: 40 页 IGBT模块认证测试规范 拟 制: 张 广 文 日 期: 201 审 核: 姜 明 日 期:__________ 批 准: 董 瑞 勇 日 期:__________ 更 改 信 息 登 记 表 规范名称:IGBT模块认证测试规范 规范编码: 版本 更改原因 更改说明 更改人 更改时间 V2.0 规范升级 新拟制测试项目,升级原测试项目内容及标准。 张广文 2011.3.7 评审会签区: 人员 签名 意见 日期 董瑞勇 吴建安 唐益宏 林金良 张 波 目 录 TOC \o 1-3 \h \z \u HYPERLINK \l _Toc313716534 1. 目的 PAGEREF _Toc313716534 \h 4 HYPERLINK \l _Toc313716535 2. 范围 PAGEREF _Toc313716535 \h 4 HYPERLINK \l _Toc313716536 3. 定义 PAGEREF _Toc313716536 \h 4 HYPERLINK \l _Toc313716537 4. 引用标准 PAGEREF _Toc313716537 \h 5 HYPERLINK \l _Toc313716538 5. 测试设备 PAGEREF _Toc313716538 \h 6 HYPERLINK \l _Toc313716539 6. 测试环境 PAGEREF _Toc313716539 \h 6 HYPERLINK \l _Toc313716540 7. 测试项目 PAGEREF _Toc313716540 \h 7 HYPERLINK \l _Toc313716541 7.1规格参数比对 PAGEREF _Toc313716541 \h 7 HYPERLINK \l _Toc313716542 7.2封装结构测试 PAGEREF _Toc313716542 \h 8 HYPERLINK \l _Toc313716543 7.2.1封装外观检查 PAGEREF _Toc313716543 \h 8 HYPERLINK \l _Toc313716544 7.2.2封装外形尺寸测试 PAGEREF _Toc313716544 \h 9 HYPERLINK \l _Toc313716545 7.2.3基板平整度测试 PAGEREF _Toc313716545 \h 9 HYPERLINK \l _Toc313716546 7.2.4封装内部结构测试 PAGEREF _Toc313716546 \h 11 HYPERLINK \l _Toc313716547 7.3晶体管电特性测试 PAGEREF _Toc313716547 \h 12 HYPERLINK \l _Toc313716548 7.3.1集-射极耐压VCES测试 PAGEREF _Toc313716548 \h 12 HYPERLINK \l _Toc313716549 7.3.2 IGBT集-射极饱和压降VCE(sat)测试 PAGEREF _Toc313716549 \h 13 HYPERLINK \l _Toc313716550 7.3.3 IGBT栅-射极阀值电压VGE(th)测试 PAGEREF _Toc313716550 \h 14 HYPERLINK \l _Toc313716551 7.3.4 IGBT内置二极管正向压降VF测试 PAGEREF _Toc313716551 \h 15 HYPERLINK \l _Toc313716552 7.4 Ices和IR测试 PAGEREF _Toc313716552 \h 16 HYPERLINK \l _Toc313716553 7.5绝缘耐压测试 PAGEREF _Toc313716553 \h 18 HYPERLINK \l _Toc313716554 7.6高温电应力老化测试 PAGEREF _Toc313716554 \h 20 HYPERLINK \l _Toc313716555 7.7高低温老化测试 PAGEREF _Toc313716555 \

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