老化试验测试规及工作流程.pptVIP

* 一、DMOS产品信息简介 TO220 TSSOP8 SOT323 平面结构图示 立体实物图示 G D S D S G 二、老化机台简介 HR-1680(RT) HTRB/HTGB SYSTEM 内部电源操作界面 试验箱内部结构 三、老化试验测试规范 1）HTRB试验规范 500H 对已完成168H的同一批样品在相同应力条件下连续进行332小时加速试验， 然后释放应力，测试样品。 168H 对初始样品在规定条件下进行168H加速试验，然后释放应力，测试样品。 1000H 对已完成500H的同一批样品在相同应力条件下连续进行500小时加速试验， 然后释放应力，测试样品。 数据采集点 80 颗 样品数量 Vds=(Vds Rating) ×80% , T=150℃ 测试条件 测试电路连接图 应力施加在 D 端； G、S短接后一起接地。 2）HTGB试验规范 500H 对已完成168H的同一批样品在相同应力条件下连续进行332小时加速试验， 然后释放应力，测试样品。 168H 对初始样品在规定条件下进行168H加速试验，然后释放应力，测试样品。 1000H 对已完成500H的同一批样品在相同应力