基于可复用IP核的SOC测试研究-检测技术与自动化装置专业论文.docxVIP

中文摘要 中文摘要 I万方数据 I 万方数据 摘 要 随着微电子技术的飞速发展，集成电路及其系统变的日益复杂，传统的测试模 型和测试方法远不能满足当今大规模电路的测试要求。系统芯片（SOC）测试遇到 了新的挑战，可复用 IP 核的测试就是其中之一。测试结构复用和测试优化是可复用 IP 核测试的两个关键问题，本文针对这两个关键问题，较为系统的研究了可复用 IP 核的测试结构以及 Wrapper 和 TAM 优化算法。 本文深入研究了可复用 IP 核的测试结构，详细分析了 IEEE P1500 标准中测试 外壳（Wrapper）单元结构在移位过程中存在的不安全性，实现了安全的 Wrapper 单元结构。这种安全的 Wrapper 结构有效解决了测试移位过程中的安全移位问题， 并且能够降低测试数据移位过程中的动态功耗。在此基础上，设计并实现了在 Wrapper 结构下的控制器，此控制器能够灵活实现 Wrapper 的几种工作模式和相关 指令。 以减少测试时间的测试优化为目标，本文对 Wrapper 和 TAM 的组合优化问题 进行了深入研究，提出了用匀度优化方法来优化 Wrapper 内部扫描链，采用此方法 能够有效的平衡核内部扫描链。根据背包算法的特点，采用改进背包问题的算法有 效缩短单个 IP 核的测试时间。采用遗传算法有效的解决测试调度的 NP 问题，详细 实现了其过程。最后用 ITC’02 SOC 测试基准电路进行算法验证，与传统整线性规 划算法相比，遗传算法优化效果良好，能有效降低 SOC 测试时间。 关键词：系统芯片 测试外壳 可复用 IP 核 测试结构 优化 II万方数据 II 万方数据 英文摘要 RESEARCH ON SOC TEST BASED ON REUSABLE IP CORE ABSTRACT With rapid development of microelectronic technology, integration circuit and its system become more and more complex. Traditional test model and test method can’t satisfy the request for the large-scale integration circuit. SOC test meets new challenges. Reusable IP core test is one of it. Reusable test architecture and test optimization are the two key points of reusable IP core. Based on the two points, this paper makes deeply research on SOC’ test structure and Wrapper /TAM optimization method. This paper makes deeply study on reusable IP core test architecture and analyzes unsafe performance of IEEE P1500 standard test wrapper cell architecture in shift process. Safe wrapper cell architecture is realized. The safe wrapper structure can resolve safe shift problem and reduce dynamic consumption in test shift process. Controller based on the wrapper structure is designed. The controller can realize several work modes of wrapper and related instructions. To reduce test time in test optimization, this paper makes deeply study on co-optimization of Wrapper and TAM and presents a method using evenness optimization to optimize inside scan chain. The evenness optimization method can make balance in inside scan cha