光纤通信测量电接口的指标和测试4学科知识.pptVIP

表6.2 误码指标的分配 总指标 参加分配的总指标 高级电路 （占40%） 中级电路 （每端占15%） 本地级电路 （每端占15%） 劣化分（DM）?10% ?10% ?4% ?1.5% ?1.5% 误码秒（ES）?8% ?8% ?3.2% ?1.2% ?1.2% 严重误码秒（SES）?0.2% ?0.1% ?0.04% ?0.015% ?0.015% 表6.3 HRDL和HRDS的误码性能指标的分配 误码性能 数字链路长度(km) 数字段长度（km） 2500 5000 280 420 劣化分（DM） ?0.4% ?0.8% ?0.045% ?0.067% 严重误码秒（SES） ?0.004% ?0.008% ?0.00045% ?0.00067% 误码秒（ES） ?0.32% ?0.64% ?0.036% ?0.054% 误码性能参数的测试方法 测试方法 ：常采用对端环回、本端测量的方法 误码仪 发送 检测 计数 光发送机 光发送机 光接收机 光接收机 中 继 器 中 继 器 环 回 误码性能参数测试图 误码仪发送部分送规定传输比特率、码型和长度为2N-1的伪随机码（N的取值与测试平均发送光功率时相同），且接收部分自动打印记录测试时间和测试时间内的误码个数，在计算出劣化分、严重误码秒、误码秒和平均误码率。 SDH测试的概述 1 传送能力的测试，包括BER测试、映射去映射测试等，用以显示SDH传送净负荷的能力。 2 指针测试，包括定时偏移、净负荷输出抖动等，用以显示SDH容许异步工作的能力。 3 嵌入开销测试，包括告警和性能监视功能测试、协议分析等，用以确认开销功能。 4 线路接口测试，包括一系列电接口和光接口参数的测试，用以保证光路上的横向兼容性。 传送能力测试 虚容器BER测试 虚容器(VC) -重要的信息单元 ，可在通道中作为独立实体任意传输、复用、交叉连接 ，完整性是否受损会直接影响SDH的传送性能 在发送侧，伪随机二进制序列(PRBS)作为净负荷装进所要测试的特定VC的包封内，再加上开销并形成标准STM-N帧结构，经电/光转换成光线路信号加到带测实体。在接收侧，在经相反的过程将待测VC解复用，并对恢复的PRBS进行BER测量，从而可以确认待测VC是否保持了其完整性。 虚容器BER测试图 STM-N OH VC PRBS 带测 实体 STM-N OH VC PRBS STM-N STM-N SDH测试仪 （发送侧） SDH测试仪 （发送侧） 映射测试 在测试支路信号映射进待测实体的SDH帧结构后，SDH测试仪接收端在经去映射处理恢复测试支路信号，进行分析。通过BER测试来检查强制调偏条件下所恢复的支路信号的完整性的方法可对映射过程进行检验 。 虚容器BER测试图 带测 实体 STM-N OH VC PRBS 支路 测试仪 支路 测试仪 STM-N SDH测试仪 （接收侧） 去映射测试 在映射过程中，比特塞入同步将使被映射的支路信号产生带有单比特定时不连续的速率变化 去映射后，利用解同步器中窄带锁相环的相位平滑作用可去掉这些定时不连续 测试的目的就是检验带测实体中支路去映射过程的性能 首先，SDH测试仪(发送测)将支路测试仪送来的G.703支路信号(或自己产生的支路信号)映射进合适的VC，然后将支路测试信号的比特率有意调偏，以便考察待测实体去映射过程的解同步锁相环的工作效果。待测实体对支路信号进行去映射处理并将去映射后的支路信号送给支路测试仪。于是支路测试仪可以对支路信号上的抖动幅度进行测量，同时也能进行BER测量，检验支路信号的完整性。 去映射测试图 带测 实体 支路 测试仪 支路 测试仪 STM-N STM-N OH VC PRBS SDH测试仪 （发送侧） 5.3 指针测试 定时偏移测试 测试的目的是检验待测实体内指针处理的能力 输入SDH线路信号源于待测实体的定时基准是不同步的，存在定时偏移 SDH测试仪发送侧与接收侧是独立的，是异步工作的，而且可以工作在不同SDH线路速率 先让SDH测试仪的发送侧产生一个装有PRBS的测试VC，然后将VC嵌入到SDH线路信号中。该SDH线路信号与待测实体的定时基准是不同步的，由定时偏移，因而测试VC的指针值必须进行调整，以便使测试VC与待测实体同步。结果，在待测实体的输出，测试VC相对SDH信号帧将呈现移动。 定时偏移测试图 STM-N OH VC PRBS 带测 实体 STM-N STM-N SDH测试仪 （发送侧） SDH测试仪 （接收侧） STM-N OH VC PRBS PTR 异步 同步 支路输出抖动测试 测试的目的就