辐射安全信息-美国伊诺斯合金分析仪.DOC

Innov-X Systems, Inc 400-680-1299 第 PAGE 8 页 美国Innov-X（伊诺斯）第三代产品 系列合金分析仪 操 作 指 南 DC2000DS2000 DC2000 DS2000 DP2000 一、基本操作： ? 开机： 开关 开关 装入电池，轻按开关 双击Innov-x分析软件 点击START 开始系统自检 将标准块紧贴探测窗口 点击Cal开始标准化（校准） 进入待机状态（测试界面） 备注：关机后，短时间内再次开机时，无需标准化，仪器会直接进入工作待机状态。 ? 测试： 选择合适的测试模式[Mode]， 再进行必要的设置[Set Up]，如选择子程序（射线）、设置测试时间等， 进入测试界面， 探测窗口对准样品，扣动手柄处按钮或点击屏幕的开始按钮，开始测试。 再次按一下手柄处按钮或屏幕的开始按钮，则停止测试，否则到时间后停止。 开始按钮测试 开始按钮 测试按钮 样品和探测窗口之间为零距离，不要有空隙； 测试期间，不要晃动仪器或样品； 测试样品时，人体组织应远离探测窗口，避免受X射线辐射。 顶部指示灯闪烁，表示X射线管正在工作。 ? 关机： 关机按钮重启按钮返回Windows系统桌面 关机按钮 重启按钮 返回Windows系统桌面 点击Home按钮 点击设置Setup按钮 点击退出Exit按钮 点击关机按钮 备注：退出软件并关闭仪器后，应将电池取出。将仪器放入手提箱内妥善保存。 二、软件操作： ? 图标按钮说明： 首页界面 测试界面 结果界面 模式界面 设置界面 参数设置 校准（标准化） 开始/停止测试 按日期指定结果 显示光谱 显示元素 确认并保存 退出不保存 触摸屏保护锁开/关 电池电量 隐藏/显示功能图标 还原全景光谱 错误信息提示 开始 / 开始 / 停止测试 触摸屏保护锁开/关 隐藏/显示下方图标 进入参数设置窗口 设置测试时间 设置测试标签 结果自定义显示 进入结果界面 返回首页界面 当前分析模式 ? 模式选择界面： 首页界面进入测试界面模式参数设置在任意界面下，点击按钮，进入首页界面 首页界面 进入测试界面 模式参数设置 再点击，进入模式选择界面。 点击一下要选择的模式，即可进入测试界面开始测试。 测试模式： Fast ID：快速识别 首先选择一个合金指纹信息，然后用这个模式 快速识别待检测的样品是否与此指纹一致。 Alloy：合金分析模式 普通的合金分析模式，识别合金牌号及其成分含量。 Alloy Plus：加强型合金分析模式 加强型的合金分析模式，除识别常规金属元素外， 还可识别诸如Mg、Al、Si、P、S等轻质元素。 在模式选择界面，点击左下方的进入模式设置： 复位测试条件设置? 复位测试条件设置 ?测试条件设置，详见后文 ?测试标签设置，详见后文。 ?合金牌号库管理详见后文 自定义显示设置 仪器标配元素表 ?测试条件设置 Single Beam-Suppress LE detection：单光束，忽略LE轻元素。用于分析不含轻元素的合金材料。 Single Beam-With LE detection ：单光束，识别LE轻元素。用于分析含轻元素的合金材料 但只关心其中的常规元素的含量。 Two Beam Always(Al,Si,Mg,S,P)：打开双光束，可分析Al,Si,Mg,S,P等轻元素 Smart Sort：智能射线，用于区分钛或钒元素有细微差异的合金（如304和321） 关闭智能射线快速区分精确分析?测试条件设置仅限 关闭智能射线 快速区分 精确分析 ?测试条件设置 仅限DC2000 备注：[Smart Beam]智能射线提供了两种使用模式：快速区分[Quick Sort]对于只是钛或钒元素有细微差异的合金（如304和321），会自动启动二重射线完成测试。精确分析[Precision]则在每一个测试中都采用智能射线，以获取钛与钒的精确值。 ?测试标签： 测试诸多样品时，为避免测试结果混淆，用户可通过修改测试标签对样品进行标注。 打开/ 打开/关闭 字段 点击空白蓝框，定义字段类型 填入本字段内容 文本 下拉菜单 自动增加数字 填入字段名称 字段类型 ?牌号等级库管理 合格/不合格模式设置牌号匹配系数调入牌号等级库编辑牌号等级库标准牌号库Factory Standard 合格/不合格模式 设置牌号匹配系数 调入牌号等级库 编辑牌号等级库 标准牌号库Factory Standard 夹杂元素库Tramp 用户自定义牌号库User1、User2。 不建议对标准库和夹杂库进行修改。 用户可通过自定义库进行添加和修改 “调入牌号库”中选中的库