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薄膜表面进行腐蚀,并研究了其织构的影响因素:在制备薄膜时需要很好
薄膜表面进行腐蚀,并研究了其织构的影响因素:在制备薄膜时需要很好 的掌握反应气压的最佳点,既保证优良的光电特性又要能腐蚀出一定的绒 度。同时,只有在恰当温度范围内制备的ZnO:Al薄膜腐蚀后才会得到适 合我们要求的绒面结构;
(4)在此基础上又对不同织构ZnO:Al与p-pc-Si:H薄膜的接触特性进行了研究 和分析。在织构后的ZnO:Al上沉积的p-pc-Si:H薄膜的晶化率均大于在未 织构的ZnO:AI上沉积的P.pc.-Si:H薄膜,且它们的接触电阻也均小于未织 构的。说明绒面有利于p-pc-Si:H薄膜的晶化;织构时间为15s的ZnO:AI衬 底上沉积的p-pc—Si:H薄膜的晶化率较高,且其接触电阻也较低,即织构时 间存在最佳点;如略微增大硼掺杂浓度(O.1%-0.15%)的话,其变化规 律与轻掺杂的相同,总体来说接触特性变差:在不同织构时问的ZnO:AI 衬底上沉积的p-pc-Si:H薄膜的晶化率均下降,且接触电阻均变大;
(5)对背电极的接触也作了一些研究:①对于电子柬蒸发制备的ZnO:AI薄 膜,掺杂浓度存在一拐点,当掺杂浓度为2.5%时n-a-Si:H/ZnO:Al的接触电 阻最小,这是因为在掺杂浓度为2.5%时ZnO:Al薄膜的电阻率最小;②保 持掺杂浓度为2.5%时,改变ZnO:Al膜的厚度,在厚度变化不大的情况下, n-a-Si:H/ZnO:Al的接触电阻随着ZnO:A1厚度的增加而增大。分析认为,厚 度变化不大时,薄膜的性能基本相同(电阻率和结晶度差别不大),但体 电阻随着厚度的增加而增加;③磁控溅射制备的ZnO:AI薄膜, n-a-Si:H/ZnO:Al的接触电阻随着厚度的增加而不断减小,这是因为磁控溅 射制备的ZnO:Al薄膜随着厚度的增加,结晶度不断变好,ZnO:AI薄膜的 电阻率不断减小。
关键词:硅薄膜电池 透明导电膜 掺杂膜 等离子体化学气相沉积 接触
特性
n
AbstractAs
Abstract
As aIl unexhausted clean energy,the utility and development of solar energy is paid more attention by people.Crystalline thin films solar cell has more merits:hi【曲 conversion efficiency of crystal silicon solar cells,long lifetime ofbulk silicon solar cells,simple manufacturing processing ofa-Si thin films solar cell.
Crystalline thin films solar cell consist of several layers of different chemical
composition and hence different optical and electronic properties.The structure of solar cell is glass/TCO/pin or nipfrCO/Al or Ag in this text.There ale interface effect beM啪different layers,and the properties of solar cell is influenced by them. TCO/p,p/i and nflCO/A1 are important interfaces.We mainly research on the contact characteristic ofTCO/p and nfrco.
The experiments include:
(1)p-Si:H were deposited Oil different TCO(Sn02,ZnO:AI,SnOgZnO:AI)by
PECVD,the contact characteristic ofdifferent TCO and p-Si:H Was studied;
(2)ZnO:A1 were texture,then the influencing factors 011.rough surface of ZnO:AI are researched.p-pc-Si:H were deposited on different roughness ZnO:AI by PECVD.then the contact characteristic of diffe
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