材料科学分析技术(电子显微学衍衬成像理论).pptVIP

* 等厚条纹形成原理的示意图 因为同一条纹上晶体的厚度是相同的，所以这个条纹叫做等厚条纹，由t=n/s可知，消光条纹的数目实际上反映了薄晶体的厚度。因此，在进行晶体学分析时，可通过消光条纹的数目来估算薄晶体的厚度。 * 等厚条纹明场像 等厚条纹暗场像 * （2）等倾消光条纹 当衍衬成像时，如果试样的厚度基本不变，而晶体的取向由于变形等原因而有微小的变化时，相当于偏离矢量s有微小的变化，这时衍射波对小晶柱下表面的强度贡献公式可写为： 这时电子衍射衬度的表达式是偏离矢量的函数，随着偏离矢量的改变，衬度改变，这是等倾条纹产生的原因。由上面的表达式可以知道，等倾条纹具有如下的特点： * 试样下表面处的强度将随偏离参量s变化而呈单缝衍射函数的形式变化，衍射强度在s=0处有强度的主极大，主极大的半宽高为1/t ，在s=n/2t 中，当n为奇数时，分别对应次极大、三极大等等，当n为偶数时，强度值将为零； * * * * 4. 缺陷晶体运动学衍衬理论 晶体中存在缺陷时，会使缺陷附近的某个区域内的点阵产生畸变，这种畸变的大小和方向可用位移矢量 R表示 理想晶体晶柱中位移矢量为r，而非理想晶体中的位移矢量应该是r′。显然，rˊ=r + R。 位移矢量 R * 设A处的薄片厚度为dz，则包含的散射原子层数为dz/d，因此薄片dz对P处衍射振幅的贡献为： 厚度为t的试样，在位移矢量为R的畸变区域，其下表面衍射波振幅为： * 在操作反射g确定的条件下， 受畸变位移矢量R控制。 畸变相位因子 由于该因子的存在，造成如下两式各自代表的两个晶柱底部衍射波振幅的差别，由此就可以反映出晶体缺陷引起的衍射衬度。 * 5. 运动学衍衬理论的适用范围 1）当s→0时，衍射强度得到错误结论 如果样品比较厚，衍射束的强度超过入射束的强度，这个结论显然是错误的。 2) 满足运动学理论样品的厚度要求很小运动学理论只适用于极薄的样品。 3）当s→0时，运动学理论确定的等厚条纹间距与实际矛盾当s→0时，衍射束的强度在样品厚度方向上变化周期性1/s趋向于无穷大，因此，等厚消光条纹间距将趋于无穷大，这与实验现象不符。实际上，当s→0时，仍看到条纹间距的上限值。 * 4.5 成像操作及像衬度 衬度：试样不同部位对入射电子作用不同，经成像放大后所显示的强度差异。 像衬度是图像上不同区域明暗程度的差别。 TEM的像衬度与样品材料自身的组织结构、采用的成像方式和研究内容有关。 * 明场像和暗场像 TEM图像分为显微像和衍射花样。前者是透射电子成像，后者为散射电子成像。 明场像（BF）：直射电子成像，像清晰。 暗场像（DF）：散射电子成像，像有畸变、分辨率低。 * 明场像和暗场像 成像电子的选择是通过在物镜的背焦面上插入物镜光阑来实现的。 中心暗场像（CDF）：入射电子束对试样倾斜照明，得到的暗场像。像不畸变、分辨率高。 * * * 通常“像”应该和真实的物相像，用可见光照明时，玻璃透镜成的像与物的表面完全相似。成像过程：通过物表面对光的折射和反射，直接成像。 电子显微像比较复杂，入射到样品中的电子束受到原子的散射在样品下表面的出射电子波中除透射束外，还有受晶体结构调制的各级衍射束，它们的振幅和相位都发生了变化。依照选取成像信息（用透射束或衍射束成像）的不同，所获得的电子显微像的衬度出现了不同机制。 * 质量厚度衬度本质上是一种散射吸收衬度，即衬度是由散射物不同部位对入射电子的散射吸收程度有差异而引起的，它与散射物体不同部位的密度和厚度的差异有关； 在复型样品、非晶态物质、合金中的第二相看到的衬度都属于此类。 衍射衬度 衍射衬度是由于晶体薄膜的不同部位满足布拉格衍射条件的程度有差异而引起的衬度； 相位衬度 相位衬度是多束干涉成像，当我们让透射束和尽可能多的衍射束，携带它们的振幅和相位信息一起通过样品时，通过与样品的相互作用，就能得到由于相位差而形成的能够反映样品真实结构的衬度（高分辨像）. Z衬度跟样品微区的平均原子序数相关。 * 假设晶体在理论上可以分割成平行于电子波传播方向的一个个小柱体，这些小柱体在衍射过程中相互独立，电子波在小柱体内传播时，不受周围晶柱的影响，即入射到小晶柱内的电子波不会被散射到相邻的晶柱上去，相邻晶柱内的电子波也不会散射到所考虑的晶柱上来，柱体出射面处衍射强度只与所考虑的柱体内的结构内容和衍射强度有关，一个像点对应一个小晶柱下表面； * 假设电子束穿过样品后，除了透射束以外，只存在一束较强的衍射束精确地符合布拉格条件，而其它的衍射束都大大偏离布拉格条件。作为结果，衍射花样中除了透射斑以外，只有一个衍射斑的强度较大，其它的衍射斑强度基本上可以忽略，这种情况就是所谓的双光束条件。反映在衍射几何条件中就是