电子产品认证检测中的EMC问题及其分析.pdfVIP

国家数字电子产品质量监督检验中心 深圳计量质量检测研究院 电子产品认证检测中的EMC问题 及其分析 电子发烧友论坛  检测技术与质量 微信公众号：检测宝典 、test-888 国家数字电子产品质量监督检验中心 深圳计量质量检测研究院 　电子产品认证中,常出现的EMC问题 一．辐射不能满足实验的要求 二．传导不能满足实验的要求 三．静电不能满足实验的要求 对不能满足实验的测试项目.有两种办法进行去考虑 Ａ．设计前期没有考虑、或者考虑不周事后补救(整改) Ｂ．设计前期考虑EMC问题从源头做起. 国家数字电子产品质量监督检验中心 深圳计量质量检测研究院 一．辐射不能满足实验的要求 辐射发射的原理 电子电器设备在正常工作时，会同时向周围空间辐射骚扰． 导致产品的EMI测试通不过，在解决产品辐射发射问题， 需要了解发射的原因．这样才能更好有效的解决问题． 一般产品的对外辐射干扰分为共模发射和差模发射． 国家数字电子产品质量监督检验中心 深圳计量质量检测研究院 差模辐射何共模辐射场强计算公式 共模辐射场强： E =1.26 × I × L × f / r 其中： I为共模电流强度；L为共模电流路径长度；f为共模电流频 率；r为测试点距离共模路径的距离。 减小共模发射，减小共模电流路径的长度，减小共模电流． 差模辐射场强： E = 6 .2 × I × A × f 2/ r 其中： I为差模电流强度；A为差模电流环路面积；f为差模电流频 率；r为测试点距离差模环路的距离。 减小差模发射：减小环路面积，减小差模电流． 国家数字电子产品质量监督检验中心 深圳计量质量检测研究院 减小差模和共模干扰的关键 根据对产品辐射模型的了解，我们可以初步得出产品 ＥＭＩ问题设 计解决的关键． 　减小设计单板中差模信号的环路面积 　减小设计单板中共模信号的回路路径 加大共模阻抗，减小高频噪声电流（滤波．隔离．及匹配等措 　　　　　　 施） 增大干扰源与对敏感电路之间的距离 国家数字电子产品质量监督检验中心 深圳计量质量检测研究院 EMC三要素 明确EMC三要素，是工程师定位与整改EMC问 题的前提，明确了辐射发射的源头与耦和路径， 工程师整改对策才能有的放失，快速有效的解 决问题． 国家数字电子产品质量监督检验中心 深圳计量质量检测研究院 EMC三要素 干扰源　　耦合路径　　敏感设备 缺少一个都不能构成EMC问题，因此只要解决其中的一 个因素就可以解决EMC问题． 国家数字电子产品质量监督检验中心 深圳计量质量检测研究院 电子产品的干扰源 开关电源，继电器，马达，时钟等，同时由时钟输出 到数字芯片，数字芯片输出的数字信号都可能导致产 品的辐射发射超标． 国家数字电子产品质量监督检验中心 深圳计量质量检测研究院 耦合路径分析 线路板上的干扰源主要是通过传导和辐射的方式，直 接或间接导致系统辐射超标！ 比如：时钟信号通过空间辐射耦合到电缆，再通过电 缆空间辐射耦合到天线接收，最终导致产品辐射发射 超标！ 　 国家数字电子产品质量监督检验中心 深圳计量质量检测研究院 对辐射的定位 ●整改的前提是定位 ●定位有两种手段：一种是直觉判断，需要完全依 靠工程师积累的EMC经验来判断，另一种是比较测 试，依靠测试仪器和EMC经验的结合来对问题进行详 细的定位判断。 国家数字电子产品质量监督检验中心 深圳计量质量检测研究院 对电子产品辐射不合格的定位分析 国家数字电子产品质量监督检验中心 深圳计量质量检测研究院 附一张辐射的图： 国家数字电子产品质量监督检验中心 深圳计量质量检测研究院 对辐射的图进行分析： 1.如果在30-300Mhz之间呈现包状扫描图。判断是电源问 题引起的。 2.如果在扫描图中，发现是尖点时，需要计算，肯定是电 路中的晶振电路的倍频引起的。 国家数字电子产品