X-射线荧光光谱仪基本原理及应用PPT课件.pptVIP

3.4.3 生产厂家：英国牛津仪器公司 3.4.4 生产厂家：德国斯派克分析仪器公司 4 案例分析之一 Optimization of a glancing angle for simultaneous trace elemental analysis by using a portable total reflection X-ray fluorescence spectrometer Shinsuke Kunimura, Daisuke Watanabe, Jun Kawai Department of Materials Science and Engineering, Kyoto University, Sakyo-ku, Kyoto, 606-8501, Japan Spectrochimica Acta Part B 64 (2009) 288–290 The total reflection X-ray fluorescence (TXRF) analysis is a spectrometric method for trace elemental analysis. By using total reflection of incident X-rays on a sample holder with a specular surface, the intensities of the spectral background due to scattered X-rays are decreased. Therefore, highly sensitive analysis is performed by the TXRF analysis. Iida et al. reported that using monochromatic X-rays is more effective for improving sensitivity to trace elements than using non-monochromatic X-rays. Since then, monochromatic X-rays have been often used for trace elemental analysis in the TXRF analysis. Detection limits down to femtograms (10?15 g) are obtained by using a monochromatic synchrotron radiation. 共产党员在政府工作中，应该是十分廉洁、不用私人、多做工作、少取报酬的模范。共产党员在民众运动中，应该是民众的朋友，而不是民众的上司，是诲人不倦的教师 LOGO X-射线荧光光谱仪基本原理及应用 基础理论与知识 1 2 3 4 仪器构造与原理 样品制备与分析 案 例 分 析 当一束高能粒子与原子相互作用时，如果其能量大于或等于原子某一轨道电子的结合能，将该轨道电子逐出，对应的形成一个空穴，使原子处于激发状态。K层电子被击出称为K激发态，同样L层电子被击出称为L激发态。此后在很短时间内，由于激发态不稳定，外层电子向空穴跃迁使原子恢复到平衡态，以降低原子能级。当空穴产生在K层，不同外层的电子（L、M、N…层）向空穴跃迁时放出的能量各不相同，产生的一系列辐射统称为K系辐射。 基础理论与知识 1 同样，当空穴产生在L层，所产生一系列辐射则统称为L系辐射。当较外层的电子跃迁（符合量子力学理论）至内层空穴所释放的能量以辐射的形式放出，便产生了X 荧光。X荧光的能量与入射的能量无关，它只等于原子两能级之间的能量差。由于能量差完全由该元素原子的壳层电子能级决定，故称之为该元素的特征X射线，也称荧光X射线或X荧光。 1 基础理论与知识 莫塞莱定律 布拉格 定律 朗伯-比尔定律 利用X射线荧光进行元素定性、定量分析工作，需要以下三方面的理论基础知识： 三大定律 1 2 3 莫塞莱定律(Moseleys law)，是反映各元素X射线特征光谱规律的实验定律。1913 年H.G.J.莫塞莱研究从铝到金的38种元素的X射线特征光谱K和L线，得出谱线频率的平方根与元素在周期表中排列的序号成线性关系。 莫塞莱认识到这些X 射线特征光谱是由于内层电子的跃迁产生的，表明X射线的特征光谱与原子序数是一一对应的，使X荧光分析技术成为定性分析方法中最可靠的方法之一。 布拉格定律(Braggs law)是反映晶体衍射基本关系的理论推导定律。1912年英国物理学家布拉格父子(W.H. Bragg和W.L. Bragg)