光束质量分析仪和大功率光束分析.PDFVIP

光束质量分析仪和大功率光束分析 大功率光束分析 Beam Analyzer HP BeamOn U3 HP BeamOn HP Microbeam HP LAM Beam Analyzer 高达 5 千瓦的大功率测量， 全功率测量系统，基于高分 光束分析的简化版 （ 独一无二的微光束分析仪 这款新仪器专为激光增 基于光束采样器技术，结合 辨率相机，结合我们获得专 与 BeamOn U3 相比 ，适用于最小 5 微米以下 材制造 （简称 LAM）而 压缩空气冷却，可实时测量 利的采样和冷却技术，可测 ），性价比极高。 、功率级超过 100 瓦的较 设计。测量关键参数如 光束轮廓和相对功率波动。 量长达 1.6 微米的红外波 小聚焦光束。 光束大小、精确光束位 长。 置和功率。 • 完善的产品系列，用于检测材料加工中所用的大功率激光光束。 • 光束分析仪 HP 探测器系列在线测量光束轮廓和绝对功率。 • 在激光打印技术中测量 M² 和束腰的精确位置。 • 测量 5 微米至 9 毫米的大功率光束。 光束分析仪系列 BeamOn WSR uBeam BeamOn LA BeamOn U3 以专利技术为基础，结 光束诊断测量系统，用 光束诊断测量系统，用 2.35 百万像素宽光谱 合相机技术，可测量从 于实时测量连续或脉冲 于实时测量和显示亚微 探测器，可测量长达 紫外到 1550 nm 的光 式大型激光光束 （达 米范围的连续或脉冲激 1.6 微米的光束，附 束。全套附件 （含内置 45 毫米）。 光、光纤以及激光二极 件齐全，适合多种用 电动滤光片转轮）均有 管的光束轮廓。 途。 销售。 • 完整系列的光束质量分析仪提供诸如刀口扫描和层析光束重建等技术，结合前所未有的宽 光谱范围，单个探测器即可探测 200 –1600 nm 甚至到 2700 nm 的光束。 • 0.5 微米以下到 45 毫米光束均可探测，配备全套附件 （未显示），可用于 M² 测量及其 他尖端用途。 光束定位和校准 系列 SpotOn Analog SpotOn Mobile LaserOn SpotOn LA SpotOn USB 2.0 完备的解决方案，用于快速 高精度紧凑型 结构紧凑的可见光 超过 100 mm 的大 便携式、快速准确的光束 （ 而精准地定位光束。此系统 光束定位系统 激光二极管 (635 孔径光束定位。 小到 0.1 微米）定位系统， 既可测量光束位置， ，附有 Nexus7 nm)，内置用于光束 带 USB2.0 接口。 又可测量功率。 PC Tablet。 方向微调的螺丝。 辅助定位应用。 • 全系列光束定位系统，包括各种探测器类型，例如： 横向效应探测器、中心开孔型四象限探测器、4x4 mm 至 100 mm 尺寸探测器以及 CCD 探测器。 • 多个探测器同时工作。 • 快速采集，高达 60 kHz。 • 校准后的激光可用作自准直参考轴。 自准直系列 Laser Analyzing Autocollimator HR AlignMeter