基于电荷补偿的金属化膜电容器自愈测试方法-太赫兹科学与电子信息.PDF

第 16 卷 第 6 期 太赫兹科学与电子信息学报 Vo1 . 16，No.6 2018 年 12 月 Journal of Terahertz Science and Electronic Information Technology Dec.，2018 文章编号：2095-4980(2018)06-1125-06 基于电荷补偿的金属化膜电容器自愈测试方法 毛 伟，黄素波，吴鸿兵 (中国工程物理研究院 电子工程研究所，四川 绵阳 621999) 摘 要 ：利用金属化膜电容器发生自愈时会引起电容极板间电压下降，并使与其并联的储能 电容为其充电以补偿电荷这一原理，设计了一种较为简单、有效的自愈测试方法。该方法利用示 波器监测自愈发生时储能电容给被测电容的充电电流作用于采样电阻而形成的脉冲电压信号，以 该信号的出现作为判断自愈发生的依据，并根据该信号特性计算自愈能量损失。仿真和实验结果 证明，该方法能够较为准确地检测到自愈的发生，并计算出自愈造成的能量损失，30 个实际测试 样本数据显示，采用该方法计算的自愈能量损失与实际自愈能量损失相比，其误差范围在-3.83%~ 5.71% 内，有较高的准确度。 关键词 ：金属化膜电容器；自愈；电荷；测试 中图分类号 ：TM531.2 文献标志码 ：A doi ：10.11805/TKYDA201806.1125 Test method of self-healing in high voltage metallized film capacitors based on charge compensation MAO Wei，HUANG Subo，WU Hongbing (Institute of Electronic Engineering，China Academy of Engineering Physics，Mianyang Sichuan 621999，China) Abstract：A simple and effective test method is designed based on the principle that self-healing could cause the voltage falling between the under test capacitor ’s electrode and makes the parallel capatior charge up for its charge loss. This method utilizes oscilloscope to monitor the pulse voltage signal produced by the pulse current signal from the charge up operation on the sampling resistance，taking this signal as a symbol of self-healing occurrence and calculating self-healing energy loss according to this signal ’s character. Simulation result and real test show this method c