材料现代分析测试方法(李军)课件.ppt

一、晶块细化和点阵畸变引起衍射线形宽化的机制 引起X射线衍射谱线宽化的原因 任何一个衍射峰都是由五个基本要素组成：峰位、最大衍射强度、半峰高、形态、对称性。 峰位：是衍射面间距的反映。 最大峰强：是物相自身衍射能力及含量的函数。 半峰高及形态：是晶粒大小及应变的函数。 对称性：是光源聚散性、样品吸收、 仪器装置及其它衍射峰存在的函数。 一、晶块细化和点阵畸变引起衍射线形宽化的机制 引起X射线衍射谱线宽化的原因 1. 物理宽化 2. 几何宽化(仪器宽化) (1) 晶粒细化 (2) 晶格畸变 (1)光源有大小 (2)射线非单色 (3)衍射仪精度 一、晶块细化和点阵畸变引起衍射线形宽化的机制 （一）、晶块细化引起衍射线形宽化 当H, K, L完全满足布拉格条件 一、晶块细化和点阵畸变引起衍射线形宽化的机制 （一）、晶块细化引起衍射线形宽化 衍射最强 但是， 当H, K, L不完全满足布拉格条件时，衍射强度也不为0，射线有一定宽度，只考虑一维的影响时有: 满足布拉格条件时， 一、晶块细化和点阵畸变引起衍射线形宽化的机制 （一）、晶块细化引起衍射线形宽化 但是， 布拉格条件有偏离时， 其中 满足布拉格条件 一、晶块细化和点阵畸变引起衍射线形宽化的机制 （一）、晶块细化引起衍射线形宽化 当 Ic =Ic，max/2 时， 谢乐（Scherrer）公式 解得半峰值处的宽度为： 高度半峰宽 ? ?‘ 一、晶块细化和点阵畸变引起衍射线形宽化的机制 （一）、晶块细化引起衍射线形宽化 虽然谢乐（Scherrer）公式是在特定晶面推导出来的, 但其对任何晶系的任何晶面具有相同的形式, 即适用任何晶系的任何晶面。这是用来计等颗粒粒径的重要公式。 在具体测定过程中还需要扣除仪器宽度. （二）、积分宽度 积分宽度等于积分强度(峰形面积)除以曲线最大值。根据定义, 同理得到谢乐（Scherrer）公式为: ----谢乐（Scherrer）公式 一、晶块细化和点阵畸变引起衍射线形宽化的机制 （二）、积分宽度 （三）、点阵畸变引起衍射线形宽化 由于外力作用下的塑性变形或由于相变等原因，晶体各处一些相当小的显微区域内(如几个亚晶块大小)存在着不均匀的显微应力，这将导致不同区域内的微应变(点阵畸变)不一致. 积分半峰宽 高度半峰宽 衍射仪可测宽度变化为0.01o,可计算得: L = 2?10-4 cm = 2?m, 可见当晶粒细于2 ?m时,观察到宽化效应. 一、晶块细化和点阵畸变引起衍射线形宽化的机制 （三）、点阵畸变引起衍射线形宽化 不同区域具有不同的d值, 在d±?d值间变化, ?d是个很小的量，但不是个常数。 d1d2d3 2? 因此, 由晶体各处发出的、同一指数晶面的衍射线的角位置将彼此有所偏离, 其总和将合成一个在2?±?2? 范围内有强度的变化峰(如图)。由于晶面畸变的相对变化量: 一、晶块细化和点阵畸变引起衍射线形宽化的机制 （三）、点阵畸变引起衍射线形宽化 d1d2d3 2? 要从实验测出的包括仪器宽度和物理宽度在内的衍射线宽度中扣除仪器宽度，首先要获得实验测定的单独由仪器致宽因素产生的衍射线宽度．将样品充分退火，以消除物理宽化的程度。用这无物理宽化因素的样品和待测样品在完全相同的实验条件下分别录下衍射花样，并对同—衍射线测定它的半峰全宽度．从前一个样品衍射线测得的宽度是完全由仪器引起的，是仪器宽度b。也可不用退火样品而用无物理致宽因素的参考物质(例如水晶)来测定仪器宽度，在效果上足完全一样的． 二、仪器宽度的扣除方法 B b Imax/2 Imax 从后一个样品衍射线测得的宽度是仪器和物理致宽因素联合引起的，是总宽度B；要计算的物理宽度?，B，b和?显然与峰形有关，一般采用两种形状函数来模拟：（p94-99）。 一是高斯型函数 二、仪器宽度的扣除方法 B b Imax/2 Imax 在这情况下，B = b + ? ? ? ＝B - b 二是柯西型函数 在这情况下， 对于衍射仪法测到的衍射峰, 符合柯西型函数分布 适用于照相法测到的衍射峰, 柯西型函数， 则有: ?＝B - b 高斯型函数， 则有： 二、仪器宽度的扣除方法 f(2?) ?/B b/B 不同模拟函数的?/B、 b/B关系 柯西型函数 高斯型函数 对于衍射仪法测到的衍射峰, 符合柯西型函数分布 对于照相法测到的衍射峰, 符合高斯型函数分布 柯西型函数， 则有: ?＝B - b 高斯型函数， 则有： 二、仪器宽度的扣除方法 f(2?) ?/B b/B 不同模拟函数的?/B、 b/B关系 柯西型函数 高斯型函数 对于衍射仪法测到的衍射峰, 符合柯西型函数分布 对于照相法测到的衍射峰, 符合高斯型函数分布 §2.6