量具内部校准规程.doc

浙江科裕制动器有限公司 量具内部校准规程 编 号 KY/QZ-7.6.2-2006 版/次 A/1 第 PAGE 2 页 共 NUMPAGES 4 页 编制： 审核： 批准： 1、游标卡尺内部校准规程 1目的 对游标卡尺进行内部校准，确保其准确度和适用性保持完好。 2范围 适用于普通游标卡尺及带表游标卡尺的内部核准。 3校验基准 外校合格的量块。 4环境条件 室温 5校验步骤 5.1检查卡尺测量接触面是否平整、干净、无污渍、锈迹，带表卡尺表头的指针是否完好，有无松动，刻度是否清晰，推动表头是否平稳、平滑。 5.2调校零位，或使指针对准零点。 5.3取2～3块任意基准量块进行度量，量块被测面要干净、平整。每块连续测量三次，每次测量值均应在允许误差范围内，将其平均值记录在《量具内部校验记录表》内。允许误差范围根据不同卡尺的精度分为±0.01mm、±0.02mm。 5.4测内径接触面磨损程度：取两块量块（构成测量的基准面）夹紧一块量块成“H”型，然后移动表头，使卡尺上面的测量端张开后靠紧两基准面进行读数，每块测量三次，取平均值。测量值与标准值根据不同卡尺的精度分为±0.01mm、±0.02mm，将其平均值记录在《量具内部校验记录表》中。 5.5可根据不同量程的卡尺选用不同的基准量块或组合进行校准； 5.6历次测量值与标准值之差，均在允许误差范围内，判校准合格； 6校准周期 每年一次 7相关记录 《量具内部校验记录表》 2、千分尺内部校验规程 1目的 对千分尺进行内部校准，确保其准确度和适用性保持完好。 2范围 适用于千分尺的内部校准。 3校验基准 外校合格的标准量块。 4环境条件 室温 5校验步骤 5.1检查千分尺测量接触面是否平整、干净、无污渍、锈迹，刻度是否清晰。 5.2扭动千分尺螺栓调校零位，使刻度对准零点。 5.3根据不同量程的千分尺选择适宜的标准量块3～4块，（可对标准量块进行组合测量）。每块量块连续测量三次，每次测量值均应在允许误差范围内，将其平均值记录在《量具内部校验记录表》内。允许误差范围为±0.01mm。 5.4外径千分尺的校验：任意取5-6块标准量块，取两块量块（构成测量的基准面）夹紧一块量块成“H”型，扭动螺栓使外径千分尺的测量端张开后靠紧两基准面进行读数，每块测量三次，每次测量值均应在允许误差范围内。将其平均值记录在《量具内部校验记录表》内，允许误差范围为±0.01mm。 5.5历次测量值与标准值之差，均在允许误差范围内，判校准合格。 6校准周期 每年1次。 7相关记录 《量具内部校验记录表》 3、本厂其他量具内部校验规程 1、目的 本规程定于本厂自制量、检具及常规量具的检定方法、周期。 2、范围 本规程适用于本厂自制量具及常规量具的内部检定。 3、检定方法 3.1环（塞）规技术要求和检定方法 3.1.1外观要求 环（塞）规的表面不应影响使用准确度的缺陷。 检定方法：目测。 3.1.2环（塞）规尺寸要求 按设计图纸。 检定方法。 用精度为0.001mm的内（外）径千分测量环（塞）规的两端，千分尺上的读数，应不超过规定的要求，连续测量几个方向，符合图纸要求，则环（塞）规检定合格。 3.2半圆槽塞规的技术要求和检定方法 3.2.1外观要求 半圆槽塞规的表面不应有影响使用准确度的缺陷。 检定方法：目测。 3.2.2半圆槽塞规尺寸要求 按设计图纸 检定方法 用精度为0.001mm的投影仪测量半圆槽塞规半径，用0.01mm的外径千分尺测量半圆槽的高度，测量结果符合图纸要求，则半圆槽塞规检定合格。 3.3角度尺的技术要求和检定方法。 3.3.1外观要求 专用检具的表面不应有影响使用准确的缺陷。 检定方法；目测。 3.3.2专用检具的尺寸要求 按设计图纸 检定方法 用同一芯棒和0.01mm高度尺测量两端V形槽的中心高度；用万能角度尺测量角度塞片和用0.01mm的外径千分尺测量半圆槽角度塞片的厚度；用0.01mm的高度尺测量限位螺钉的高度。全部测量结果符合图纸要求，则专用检具检定合格。