Lecture8 表面空间分辨技术.pptVIP

* 自旋分辨 * R. Wiesendanger, RMP 81, 1495 (2009) * Local Probes: family家族 Binnig Rohrer, Rev. Modern Phys. 71, S324 (1999) Scanning Near-field Optical Microscopy (近场光学显微镜) Optics: ? wavelength Photo Scanning Tunneling Microscopy Microscopy Scanning Force Microscopy (SPM) Atomic Force Microscopy (AFM) （原子力显微镜） Magnetic Force Microscopy (MFM) （磁力显微镜） Electrostatic Force Microscopy (EFM) （静电力显微镜） Lateral Fiction Force Microscopy (LFM) （摩擦力显微镜） Scanning Thermal Microscopy (STHM) (热电势显微镜) Ballistic Electron Emission Microscopy (BEEM) (弹道电子发射显微镜) * 参考书 L. E. C. van de Leemput and H. van Kempen, Rep. Prog. Phys. 55, 1165 (1992). C. J. Chen, Introduction to Scanning Tunneling Microscopy (Oxford Uni. Press, New York, 1993). R. Wiesendanger, Scanning Probing Microscopy and Spectroscopy-Methods and Applications (Cambridge Univ. Press, 1994). * 下一次课： 表面能量分辨技术 * 探头X与接受Y可以不是一一对应的。Radiation可以是光子。 * dI/dV 既可以通过将I(V)曲线进行数值微分后获得，也可利用锁相放大器直接获取。数值微分的方法通常噪音比较大，而锁相放大器直接获取可以对调 制频率下的信号进行放大处理，具有极强的抗干扰能力，进而可以减少背景噪音的影响，因而也是目前比较普遍采用的方法。利用锁相放大器获得 dI/dV 谱 的原理是，如果在采集 I(V) 谱时，在外加偏压上叠加一个高频小振幅的正弦调制信号，将隧穿电流输出到锁相放大器，用锁相放大器测量到的调制频率的一 次谐波就直接对应于dI/dV 谱。 * * * * * * * * * * 3. STM的应用： 空间分辨 能量分辨 成份分辨 时间分辨 自旋分辨 * 空间分辨 * 由于： 有： 当κ=10nm-1,R=1nm,Δx=0.3nm时,电流减小e2，约一个量级。 STM的空间分辨估算 * 表面原子结构的成像 Si (111)-7?7 表面 理论模拟 STM形貌图 原子不再是教科书中抽象的概念 Y. L. Wang et al., Phys. Rev. B 70, 073312 (2004) * 探测单分子内部的电子结构 并五苯分子的分子能级和分子轨道 STM 微分电导谱 分子轨道的空间分布 真正在实空间中“看见”分子轨道 J. Repp et al., Phys. Rev. Lett. 94, 026803 (2005) * 单分子/原子尺度上的操纵 Lee HJ, Ho W Science 286, 1719 (1999) * * 能量分辨 * 能量分辨主要受温度的限制，在有限温度下，电子的费米-狄拉克分布函数并不是台阶函数，而是有一定的展宽。 STM的能量分辨率 费米分布函数：f(E)=1/[1+(E-EF)/kBT] 例： T=300K，能量展宽：0.1 eV T=300mK，能量展宽：0.1 meV 能量分辨率~3.2kBT * 一维原子链中的量子态 T=10K, ΔE=3meV Nilius et al., Science 297, 1853-1856 (2002) * 磁性原子在超导能隙中诱导的局域态 T=400mK ΔE=0.1meV S. H. Ji et al., PRL 100, 226801 (2008) * 石墨烯中的朗道能级 T=10mK, ΔE=0.003meV 石墨烯的STM图像 Y. J. Song et al., Nature 467, 185 (2010) Y. J. Song et al., RSI 81, 121101 (2010) * 化学