半导体可性的数学基础.ppt

第二章可靠性的数学基础 介绍可靠性的定量表征，常用概率分布及可靠性系统 2.1可靠性的定量表征 可靠性：是指产品在规定的条件下，在规定的时间内完成规定功能的概率。 三个规定来描述可靠性——定性的 准确地描述产品可靠性——定量的 产品的寿命是随机的变量——数理统计来讨论 可靠性的数学描述：可靠度、失效概率、失效概率密度、瞬时失效率、平均寿命、可靠寿命 可靠度R(t) 产品在规定的条件下，在规定的时间内，完成规定功能的概率。常记作R(t) 用数学方式表示为： ξ为随机变量，指产品寿命，N为进行试验的产品总数，n(t)为试验到t时刻失效的总个数。N(t)为工作到t时刻仍在正常工作的产品数 失效概率F(t) 失效率也叫累积失效概率或不可靠度（性），是指产品在规定的条件下在时间t以前失效的概率，记为F(t) 由概率论可知： 在实际处理中其近似值为： R(t)与F(t)的关系 失效概率密度f(t) 也叫失效密度是指产品在t时刻的单位时间内，发生失效的概率，说明器件在各时刻失效的可能性。是F(t)的微商。记作： 失效率函数λ(t) 失效率函数简称失效率，也称瞬时失效率即产品工作到t时刻后，在一个单位时间内失效的概率。 设N个产品从t=0时刻开始工作，到t时刻有n(t)个产品失效，又工作到t+Δt时刻，失效数为n(t+Δt)，则失效率记作 单位：h-1、%/100h、非特（Fit）三种表示法 1Fit=1×10-9/h=1×10-6/1000h Fit的物理含义：10亿个产品，在1小时内只允许一个产品失效，或1000小时只允许百万分之一的失效概率 例：短期工作卫星： λ100Fit=10-4/1000h 我国国家标准“电子器件失效率试验方法”中规定：失效率分为亚五级（Y），五级（W）…十级（S） 微电子器件与电路的失效规律 早期失效期：失效率较高，但失效率随时间增加而下降，器件的失效主要由一种或几种具有普遍性的原因所造成的。进行合理的筛选可以提高 偶然失效期：失效率低且变化不大，器件的失效是由偶然因素引起的 耗损失效期：失效率明 显上升，致使大部分器件相 继失效。产品损伤已经严重， 寿命即将终止。 产品的寿命特征 定义：不可修复的产品，产品发生失效前的工作时间；可修复，指两次相邻故障间的工作时间。 常用寿命概念 平均寿命tMTTF 可靠寿命 中位寿命等 平均寿命 器件寿命的平均值，记作：θ或tMTTF,是器件失效前的平均时间 由概率论关于随机变量的数学期望的定义得： 可靠寿命 对一些电子产品，当其可靠度降到r时的工作时间，记该时间为tr，称为产品的可靠寿命，即：R(tr)=r 当r=0.5时的tr称为产品的中位寿命， r=1/e时的可靠寿命称为产品的特征寿命 寿命方差和寿命标准离差 表征产品寿命分散程度的特征量 离差平方和 方差 标准离差 可靠性各特征量之间的关系 插图片 举例 设100块集成电路，在第100h内的失效数为7块，在100~101h内失效13块，求该电路在100h的失效率为多少？ 某集成电路使用到2000h还能工作的概率是94%，使用到3000h仍能正常工作的概率是87%，问已经工作了2000h的电路，能继续工作到3000h的概率是多少？ 常用的概率分布 分布类型的确定方法： 根据物理背景来定，产品的寿命分布与产品的类型（机械类，电子类）关系不大，而与其承受的应力情况、产品的内在结构及其物理、化学等有关 通过寿命试验及使用情况，获得失效数据，用统计推断的方法来判断它是属于何种分布形式 概率分布： 威布尔分布 指数分布 正态分布 正态指数分布 威布尔分布 概率密度函数为： 累积失效分布函数： 失效率： 形状参数m 当m1,f(t)曲线随时间单调 下降 当m=1，为指数分布 当m1，曲线出现缝制后 下降， 当m3.5可以看作正态分布处理 M值越小，曲线平坦，失效数据分散，失效原因越复杂，相当于失效率曲线中的早期失效。当m值越大，曲线变陡，数据分布集中，失效原因越单纯，反映出器件原材料、工艺一致性好。相当于耗损失效期。当m=1，失效率为常数，相当于产品的偶然失效期 尺度参数t0 表示器件寿命的长短。当m、γ固定时，不同t0影响曲线横轴或纵轴尺度的放大和缩小，不影响曲线的基本形状 t0越大，寿命越长，但数据越分散，失效机理越复杂 位置参数γ 表示了器件开始失效的时间。当m、t0固定时，不同γ值的曲线形状完全相同，只是位置发生了变化 当γ≤0时，表示电路一开始就有失效电路存在 当γ0时，表示电路开始一段时间内没有失效 威布尔分布的寿命特征 平均寿命 寿命方差 可靠寿命 中位寿命 指数分布 其函数形式为： 其他的寿命特征为： 正态分布 其函数形式为： 寿命特征：μ是平均寿命 对数正态分布