常用元器件测量.ppt

由于谐振时电感和电容两端电压达到最大值，且该电压是信号源电压的Q倍，如果信号源Us使用恒压源，则元件上的电压可用来指示电路的谐振状态，且能以Q值标度。 应该指出的是：图7-28只适用于对高Q元件进行直接测量。用于测量低Q元件则会产生较大的误差。 7.3.1.2 Q表的组成 图7-29是Q表电路原理方框图，其电路组成包括信号源、耦合电路、Q值电压表及测量用的谐振回路。内部装有空气可变电容器Cs作为标准元件。 7.3.2 Q表的应用 7.3.2.1 直接测量法 （1）测量电容 这种测量方法一般采用如图7-30所示的谐振电路，其中Cx为被测电容。测量时调节信号源频率f，使电压表的指示值最大。记下此时的信号源频率fo（即为谐振频率），则 式中，Ls为标准电感，单位为μH；fo的单位为MHz。 （2）测量电感 直接测量法亦可用于电感元件的测量，接法和图7-30相似，只是图中的标准电感Ls的位置接待测电感，被测电容的位置接可调的标准电容Cs。选择适当的信号源频率，调整标准电容Cs，使电路谐振。当测试用频率固定时，标准电容刻度盘可用电感定度，从刻度盘上直接读出被测电感量；由Q表直接读出电感器的Q值。亦可按下面的公式计算。设谐振时频率为fo，则 7.3.2.2 并联替代法 所谓并联替代法就是指被测元件与标准元件相并联。这种方法适宜于测量高阻抗元件，例如大电阻、小电容、大电感等。 （1）测量电容 测量电路如图7-31所示。图中Cs为标准电容，其容量可调，并可直接读出。本测量方法适用于被测电容Cx的容量小于Cs变化范围的情况。 测量时，先不接被测电容Cx，使标准电容Cs处于最大值CS1，调节信号源频率使回路进入谐振状态；再将Cx并联接入回路，保持信号源频率不变，调节Cs至CS2，使回路仍处于谐振状态。由于Cx与CS2并联的效果等于CS1，所以有 （2）测量电感 测量电路如图7-32所示。测量时，在Lx接入回路之前，调节Cs至较小值CS1并调节信号源频率使回路进入谐振状态，则有 或 然后接入Lx，在信号源频率不变的情况下调节Cs至CS2，使回路重新谐振，则有 7.3.2.3 串联替代法 （1）测量电容 当被测电容Cx的值大于标准电容Cs的调节范围，就应采用如图7-33所示的大电容测量电路。先将A端和B端短路，调节标准电容Cs使之处于较小值CS1，再调整信号源频率使回路产生谐振；然后断开A端和B端，接入被测电容Cx，保持信号源频率不变，调节Cs至CS2，使电路再次谐振。由于Cx与CS2串联的效果等于CS1。因此 即 （2）测量电感 对小电感进行测量应采用如图7-34所示的串联替代法。 7.3.2.4 线圈分布电容的测量 测量电路如图7-35所示，图中Co为被测线圈L的分布电容。Cs为标准电容。 7.3.3 GQ-70型高频Q表简介 GQ-70型高频Q表的原理方框图如图7-36所示。 晶体管的输出特性是指当基极电流IB为某一定值时，集电极和发射极之间的电压UCE与集电极电流IC之间的关系，即。其测试的步骤如下。 （1）先固定一个IB，然后改变电源电压从0到UCC，分别测得在不同的UCE下所对应IC值。 （2）再将IB固定到另一个值，重复上述步骤，再次测得在不同的UCE下所对应IC值。 （3）余此类推，便可得出不同IB时的多组在不同的UCE下所对应IC值。 （4）最后，以UCE为横坐标，IC为纵坐标，IB为参变量作图，便可得出不同IB时的一组共发射极晶体管的输出特性曲线。 从上述测试步骤可以看出，如果要将晶体管的输出特性曲线自动显示在示波管的荧光屏上，至少应解决以下三个问题。 （1）对应于每一个测试步骤需要提供不同的基极注入电流IB，也就需要有一个如图7-38（a）所示的基极阶梯电流。 （2）对于每一个固定的IB值，需要改变一次集电极的电源电压UCC，一般用如图7-38（b）所示的正弦半波电压来实现。由于这种正弦半波电压可直接从市电经全波整流取得，所以目前大部分图示仪都是利用这种方法，并把此电压称为集电极扫描电压。 （3）要能把IC和UC