多参数量测扭转向列型液晶之新型外差式偏光仪-AOIEA.PDFVIP

多參數量測扭轉向列型液晶之新型外差式偏光儀 尤崇智 羅裕龍 成功大學機械系 成功大學機械系 N1893104@ccmail.ncku.edu.tw loyl@mail.ncku.edu.tw 摘要 目前已發展出一新方法來量測扭轉型液晶盒的多項參數，與以往文獻不同的是，我們首先使用多 目標基因演算法來分析光學外差干涉訊號的相位及強度比，同時求出液晶盒的入射液晶導軸方位角 (azimuth angle) 、扭轉角以及液晶盒厚度的最佳解。藉由光學外差共路徑干涉的量測架構，可降低環 境擾動對於訊號的影響，並改善訊噪比(signal-to-noise ratio) ；經由初步的實驗結果確認了此方法用於 量測扭轉型液晶盒參數的可行性，而所得的各參數的最佳解與廠商提供數值十分接近，且經由多次量 測的結果，此系統亦有相當高的穩定性。 關鍵字：外差干涉、基因演算法、向列型液晶、多參數量測 壹、前言 近幾年來，液晶顯示器由於輕、簿、省電、低輻射...等優點大量的應用在電子產品，並有逐漸取 代傳統的映像管顯示器的趨勢。在一般的液晶顯示器裡，液晶盒的厚度和扭轉角關係著顯示器的品 質，尤其對亮度、對比度及反應時間有極大的影響。。因此準確的量測液晶層各項參數，對於液晶顯 示器的設計及製造會有很大的幫助，而在這些參數的量測上，近年已有數量可觀的研究發表[1-5] ，在 單波長的量測方法上，有使用旋轉波片的方式來量測較薄的液晶層厚度 [1] ，或是單波長的光強度比 例法 (total intensity ratio method, TIRM量測液晶厚度) [2] ，另外在使用多波長光源量測上，像是旋轉 偏振片法 [3] 、光譜式TIRM[4]或是量測穿透光譜的變化 [5]以求得液晶參數，這些方法均需要連續的 旋轉偏光元件；另外，利用量測穿過液晶樣本之 Stokes 參數以求出液晶參數的方法也持續的被發表 [6-9] 。在本研究中，我們以扭轉型向列液晶為樣本，使用一外差干涉偏光調變儀得到一外差訊號，並 首先使用基因演算法來逆運算求出該液晶樣本之入射液晶導軸方位角 (azimuth angle) 、扭轉角以及液 晶盒厚度的最佳解。 貳、研究方法 一、外差式偏光干涉原理 傳統干涉術是利用分光鏡將光分成參考及測試兩道光，使這兩道光走不同的路徑，在將之 結合起來，藉由干涉條紋的分佈情形將待測訊息給擷取出來。而共路徑外差干涉術則是利用調 變器調變光源將待測訊號埋入相位或振幅中，輸入至鎖相放大器進行訊號處理，擷取相位訊號 再進行分析。因為待測訊號是埋入相位中且參考光與信號光為共路徑所以相較傳統的條紋解析 法有更容易解析、及時處理及精確等優點。 若兩光波之電場分別表示成 E A exp[i (ωt )] 1 1 1 (1) E A exp[i (ωt =+δ)] 2 2 2 (2) 其中A 、A 為振幅，ω 、ω 為角頻率，δ為兩光波之光程差所造成的相位差，將兩道光電 1 2 1 2 場互相疊加後，由於 I (t ) 光強度大小正比於E (t)電場振幅的絕對值平方，即 2 2 2 I (t ) ∝E +E ∝A +A +2A A [cos(Δω+δ)] I =+I +2 I I cos(Δω+δ) (3) 1 2 1 2 1 2 1 2 1 2 所以外差干涉訊號就如上面所述有兩個頻率 或波長( )稍有不同的光波根據重疊原現疊加後 的干涉現象。所要解析的訊號頻率為拍頻，且要量測的相差被載入訊號的相位中，故只需將此 訊號經電子電路