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哈尔滨理工大学
数字电子技术实验指导书
哈尔滨理工大学
电子科学中心实验室
2003年7月10日
目录
电子科学中心实验室
数字电子技术
实验一、TTL各种门电路功能测试 ………………………………………………………….2
实验二、组合逻辑电路分析 ……………………………………………………………….…5
实验三、变量(三八)译码器 ………………………………………………………….…7
实验四、LED译码器 ...…………………………………………………………………….… 9
实验五、BCD--格雷码代码转换译码器.…………………………………………………….…10
实验六、四位二进制全加器 ………………………………………………………………..…11
实验七、数据选择器 ………………………………………………………………………..….12
实验八、触发器 ……………………………………………………………………………..….13
实验九、555定时器 ……………….………………………………………………………..….14
实验十、多谐振荡器与单稳态触发器实验 ………………………………………………..….15
实验十一、计数器 …………………………………………………………………………..…17
实验十二、移位寄存器 ……………………………………………………………………..…19
实验十三、交通灯自动切换(设计性试验)..……………………………………………..…20
实验十四、模拟汽车尾灯(设计性试验)..………………………………………………. …22
实验十五、数字钟(设计性试验)..………………………………………………………. …23
实验十六、梯形波产生电路(设计性试验)……..………………………………………. …24
实验一、TTL各种门电路功能测试
一、实验目的:
1、熟悉TTL各种门电路的逻辑功能及测试方法。
2、熟悉万用表的使用方法。
二、实验内容:
1、与非门、或非门、与或非门、异或门逻辑功能的测试。
2、利用74LS00与非门实现“与电路”、“或电路”、“或非电路”、“异或电路”。
三、实验用设备仪器及材料:
1、实验设备:SAC—DS4数字逻辑实验箱 1个
数字万用表 1块
2、器件::74LS20双四输入与非门 1片
74LS02四二输入或非门 1片
74LS51双2-3 输入与或非门 1片
74LS86四二输入异或门 1片
74LS00四二输入与或门 2片
四、实验原理图:
1、
五、实验方法及步骤:
1、与非门逻辑功能测试
用74LS20双四输入与非门进行实验(1)按图1接线测试(2)按表1要求用开关改变输入端A、
B、C、D的状态,借助指示灯和万用表,把测试结果填入表中。
表1
输 入
输出电压(v)
输出逻辑状态
A
B
C
D
0
0
0
0
1
0
0
0
1
1
0
0
1
1
1
0
1
1
1
1
1
1
1
1
0
2、或非门逻辑功能测试
用74LS02二输入四或非门进行实验(1)按图2接线测试
(2)按表2要求用开关改变输入量A、
B的状态,借助指示灯和万用表观测各相应输出端F的状态,并将结果填入表中。
表2
输入
输出电压(V)
输出逻辑状态
A
B
0
0
1
0
1
0
1
0
0
1
1
0
3、或非门逻辑功能测试
用74LS51双2-3输入与或非门进行实验(1)按图3接线测试
(2)按表3要求开关改变输入端
A、B、C、D的状态,借助指示灯和万用表观测各对应输出端F的状态,把测试结果填入表中。
表3
输入
输出电压(V)
输出逻辑状态
A
B
C
D
0
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