提高OTDR的ADC量化精度的研究.DOC

- PAGE 1 - 提高OTDR的ADC量化精度的研究 吴晨平,刘永智，赵羽 电子科技大学光电信息学院，成都 （610054） E-mail：wcp_2003@ 摘 要:针对OTDR使用中存在信号动态范围大、噪声干扰强的特点,本文利用OTDR信号重复采样技术提高其ADC 量化精度的方法, 可以简化OTDR 电路和运算的复杂程度。 关键词: OTDR ADC 量化精度 中图分类号： 1.引言 OTDR测量技术面临的一个主要问题是后向散射光信号非常微弱、动态范围大。这要求OTDR系统具有更很高的灵敏度和很更大动态范围, 相应ADC的位数和采样频率也要求很高，因而直接采用ADC进行测量是不可行的。传统的解决办法是在ADC之前加一个对数放大器以降低信号的动态范围。但是对数放大器是非线性的，会增加某些算法（如伪随机算法）的复杂度。文献[1]提出了利用重复采样技术提高OTDR的ADC量化精度，并分析了只有信号、只有白噪声、信号加白噪声三种情况。本文在文献[1]研究的基础上，分析了白噪声和均匀分布噪声对ADC量化精度的影响，并给出详细的推导过程和MATLAB仿真。 2.基本的量化过程分析 图(1) 基本的量化过程 模数变换中，量化精度取决于ADC的位数[2]。如图(1)所示，S为模拟信号，、分别为不加噪声时信号的量化值和舍入部分（）。在统计意义上均匀分布于[-0.5，+0. 5]之间。