系统集成项目管理工程师论文：浅述新兴的电子系统故障预测与健康管理.doc

系统集成项目管理工程师论文： 浅述新兴的电子系统故障预测与健康管理 [摘 要] 介绍了新兴的电子产品故障预测与健康管理（PHM）理念，给出了电子系统PHM的体系结构，分析了电子系统PHM关键技术，最后探讨和分析了实现电子系统PHM的四种主要方法。 [关键词] 电子系统；故障预测；健康管理 1．引言 目前几乎在所有领域和各个行业中，电子系统在产品中所占的比重越来越大，例如航空电子系统在整机成本中已占大约50%的比例。然而，占有如此大比例的电子系统却往往是整个系统中最先出现故障的部分[1]，这将直接导致产品的寿命缩短以及维护费用增大，通常解决这一问题的传统方法是故障诊断技术。然而故障诊断领域的研究工作主要集中在评估系统当前的状态和故障，即系统是否发生了故障、故障类型和位置等等。随着市场对产品的要求愈发苛刻，仅仅知道系统当前的状态不能满足需求，于是出现了故障预测与健康管理（Prognostics and Health Management，PHM）的新理念。 PHM理念中所谓健康是指系统或产品的当前状态，用系统偏离当前期望状态的程度来衡量。预测是以系统历史和当前状态为依据，以一定的可靠性为约束条件，推测出系统未来发生故障的时间、类型和程度。综合来看，PHM是一种可以在系统生命周期过程中随时评估系统可靠性的新方法，以达到预测故障和降低风险以及成本的目的。 2．电子系统PHM的体系结构 电子系统的PHM体系结构[2]如图1所示。PHM主要由数据预处理和实时状态监测、健康管理、状态预测、模块级/元件级故障诊断以及人机接口等组成。通常要求PHM具有以下能力：（1）测试能力；（2）传感器、部件和分系统级有关数据的采集能力；（3）借助系统模型和信息融合技术，检测和隔离系统、部件或子系统的故障或失效状态的能力；（4）预测即将发生的故障，并估计部件剩余寿命的能力；（5）系统状态管理的能力。 3．电子系统PHM关键技术 电子系统的PHM关键技术主要包括五点[3]。 (1)状态监测与健康管理技术。要求利用先进的传感器获得尽可能精确的电子系统运行状态信息，通过设计更先进的数据分析技术获得对电子系统健康状况的精确估计。 (2)诊断技术。对系统维修时，如何定位出故障模块或元件是非常重要的。由于此时的故障程度还不足以使得系统完全失效，因此大多属于早期故障状态，设计先进的特征提取技术和具有良好性能的分类器就显得尤其重要。 (3)预测技术。当系统、分系统或部件可能出现小缺陷或早期故障，或逐渐降级到不能以最佳性能完成其功能的某一点时，选取相关检测方式，设计预测系统来检测这些小缺陷、早期故障或降级，做到防患于未然。一般又分为系统的状态预测和寿命预测两类。 (4)信息融合技术。多传感器数据融合是指对由两个或更多传感器组成的具有协同、互补和竞争性质的传感器阵列进行智能处理，其目的就是以尽量高效率的诊断方法将各自的信息综合起来，以便对电子系统状态的确定获得更为准确的结论。 (5)人工智能技术。PHM中广泛采用人工智能技术，包括专家系统(基于模型的推理、基于案例的推理、基于规则的推理)、神经网络、模糊逻辑和遗传算法等，通过它们的智能推理获得对系统状态的准确监控和故障诊断。 4．电子系统PHM实现的主要方法 马里兰大学的先进寿命周期工程中心(Center forAdvanced Life Cycle Engineering，CALCE)是著名的电子设备PHM理论与技术研究机构。该机构将电子系统的PHM实现方法归纳为四类[4]：（1）基于机内测试（Built-In-Test，BIT）的方法；（2）基于保险和预警装置的方法；（3）基于状态参数监控的方法；（4）基于失效机理的方法。 4.1基于机内测试的方法 电子设备机内测试（Built-In-Test，BIT）是指系统或设备内部提供的检测、隔离故障的自动测试能力。BIT是通过错误检测/修正电路、自查电路以及自确认电路来完成故障检测的，通常设备制造商还会提供BIT专用软件和电路，用于检测电子系统内部节点的电压或信号类型。 按照不同的故障检测程度，BIT可分为三个层次：元件级、模块级和系统级。元件级BIT又称为机内自测试（Built-in Self-Test，BIST）；模块级的BIT主要用于支持一个或多个回路组成的在线可更换元件。系统级BIT则用于诊断整个电子系统的运行测试。 从检测时间来看，电子系统BIT又可分为离散BIT（Interruptive BIT，I-BIT）和连续BIT（Continuous BIT，C-BIT）。顾名思义，I-BIT是指具有一定时间间隔的BIT，通常实施这种BIT时需要设备或系统停机。C-BIT是一种连续的不间断BIT，不会影响设备正常运行，而且能够在第一时间发现系统的异常。 BIT的